01
存储器芯片概述
SRAM、DRAM、Flash、MRAM分类 · 应用领域 · 市场趋势
基础分类
02
存储器芯片架构
6T/1T1C/NAND String · 外围电路 · 控制逻辑与时序
架构存储阵列
03
系统集成基础
SoC存储器子系统 · Memory Controller · AXI/AHB/APB
SoC总线
04
验证方法论
Verification Plan · Testbench · SystemVerilog & UVM
UVM方法论
05
UVM验证环境搭建
uvm_component/sequence/driver · 树形结构 · 工厂模式
UVM环境
06
存储器模型 (Memory Model)
行为级/时序级/功能级模型编写
建模行为级
07
测试用例设计
功能测试 · 时序测试 · 压力测试 · Corner Case
测试Corner
08
验证组件开发
Sequence/Sequencer · Driver · Monitor · Scoreboard · Ref Model
组件UVM
09
断言与覆盖率
SVA基础 · 存储器断言 · 功能覆盖率收集
SVA覆盖率
10
寄存器模型 (RAL)
UVM RAL构建 · 前门/后门访问 · 寄存器测试
RAL寄存器
11
存储器内建自测试 (MBIST)
MBIST架构 · March C/C- · Checkerboard · 集成验证
MBIST算法
12
存储器修复与冗余
行/列冗余 · Fuse Box · 修复流程
冗余修复
13
时序验证
STA应用 · Setup/Hold检查 · 时序收敛
STA时序
14
功耗验证
动态/静态功耗 · PrimeTime PX · 低功耗验证
功耗低功耗
15
后仿真 (Gate-Level)
网表仿真 · SDF反标 · 后仿真调试
后仿SDF
16
形式化验证
等价性检查 · 模型检查 · 存储器应用
Formal等价性
17
混合信号验证
模拟/数字接口 · AMS仿真
AMS混合信号
18
验证自动化与脚本
Makefile/Tcl · Python回归 · CI/CD集成
自动化脚本
19
验证环境调试
波形调试 · 日志分析 · Bug模式与技巧
调试波形
20
验证回归与质量度量
回归管理 · 完成标准 · 逃逸率分析
回归质量
21
存储器接口协议验证 (DDR/LPDDR)
DDR命令/地址/数据 · PHY验证 · 控制器验证
DDRLPDDR
22
Flash存储器验证 (NAND/NOR)
ONFI/Toggle · 控制器验证 · ECC验证
NANDECC
23
新型存储器验证 (MRAM/RRAM/PCM)
特性与挑战 · MRAM/RRAM验证要点
MRAMRRAM
24
测试芯片 (Test Chip) 验证
设计目的 · 验证策略 · ATE测试
TestchipATE
25
ATE测试向量生成
ATE原理 · WGL/STIL格式 · 向量转换调试
ATE向量
26
存储器可靠性验证
数据保持 · 耐久性 · 温度/老化验证
可靠性老化
27
安全验证
OTP/TEE/加密 · Side-Channel · 安全方法
安全加密
28
验证项目管理
团队组织 · 里程碑 · Metrics · 风险管理
管理里程碑
29
存储器验证案例研究
SRAM/DRAM/Flash案例 · 经验教训
案例实战
30
未来趋势与挑战
AI/ML验证 · Verilator/cocotb · 异构集成
趋势开源