从Verilog到RISC-V处理器实现全流程
📚 共计 30 章节
01
Verilog基础与数字设计入门
Verilog历史、模块结构、数据类型、操作符、组合逻辑建模 (assign/always)
组合逻辑
模块
02
时序逻辑与有限状态机
寄存器建模、阻塞与非阻塞赋值、同步/异步复位、FSM (Moore/Mealy) 设计与编码风格
FSM
复位
03
Verilog仿真与测试平台
Testbench结构、initial/always块、$display/$monitor、波形查看 (VCD)、基本仿真流程
Testbench
VCD
04
RISC-V指令集架构概览
RISC-V起源与设计哲学、指令格式 (R/I/S/B/U/J)、寄存器约定、特权级简介
ISA
特权级
05
RV32I基础整数指令集 (上)
算术运算 (ADD/SUB/ADDI)、逻辑运算 (AND/OR/XOR)、移位指令 (SLL/SRL/SRA)
ALU
移位
06
RV32I基础整数指令集 (下)
加载与存储 (LB/LH/LW/LBU/LHU, SB/SH/SW)、分支指令 (BEQ/BNE/BLT/BGE...)、跳转 (JAL/JALR)
访存
分支
07
处理器微架构概述
单周期 vs 多周期 vs 流水线、数据通路与控制通路、经典5级流水线 (IF/ID/EX/MEM/WB)
流水线
数据通路
08
取指阶段 (IF) 设计
PC寄存器、指令存储器接口、地址生成、分支预测基础 (静态预测)
PC
分支预测
09
译码阶段 (ID) 设计
指令译码逻辑、立即数生成单元、寄存器文件读取、控制信号生成
译码
立即数
10
执行阶段 (EX) 设计
ALU设计 (算术/逻辑/移位/比较)、分支条件判断、数据前馈 (Forwarding) 基础
ALU
前馈
11
访存阶段 (MEM) 设计
数据存储器接口、加载/存储控制、字节使能生成、非对齐访问处理
访存
字节使能
12
写回阶段 (WB) 设计
结果选择逻辑 (ALU结果/存储器数据/PC+4)、寄存器文件写入控制
写回
寄存器
13
流水线冒险与解决 (上)
结构冒险 (资源冲突)、数据冒险 (RAW/WAR/WAW)、插入气泡与转发技术
冒险
转发
14
流水线冒险与解决 (下)
控制冒险 (分支预测失败)、分支预测技术 (静态/动态)、预测错误恢复机制
控制冒险
预测
15
RISC-V单周期处理器实现
整体数据通路集成、控制单元真值表、Verilog顶层模块连接、仿真验证
单周期
控制单元
16
RISC-V 5级流水线处理器 (基础版)
流水线寄存器插入 (IF/ID, ID/EX, EX/MEM, MEM/WB)、数据转发网络实现
流水线寄存器
转发
17
RISC-V 5级流水线处理器 (完整版)
分支预测器 (BTB+2-bit饱和计数器)、加载-使用冒险处理、异常与中断入口
BTB
异常
18
存储层次与Cache设计基础
Cache原理 (直接映射/组相联/全相联)、写策略 (写直达/写回)、替换算法 (LRU)
Cache
LRU
19
总线协议与SoC集成
AXI4-Lite握手协议、外设映射 (UART/GPIO/Timer)、地址译码与片选逻辑
AXI
SoC
20
中断与异常处理
RISC-V机器模式异常委托、mtvec/mepc/mcause寄存器、中断控制器 (PLIC) 设计要点
中断
PLIC
21
指令集扩展 (M扩展)
乘除法指令 (MUL/MULH/DIV/REM)、流水线实现、多周期乘法器设计
M扩展
乘法器
22
指令集扩展 (F扩展)
单精度浮点指令、FPU基本架构、浮点加法/乘法流水线
浮点
FPU
23
多核与一致性基础
多核互联拓扑 (Mesh/Ring)、缓存一致性协议 (MSI/MESI)、原子指令 (LR/SC)
多核
MESI
24
低功耗设计技术
时钟门控、操作数隔离、多电压域、功耗分析工具 (PrimeTime PX) 使用
低功耗
时钟门控
25
可测试性设计 (DFT)
扫描链插入、边界扫描 (JTAG)、内建自测试 (BIST)、ATPG基础
DFT
JTAG
26
逻辑综合与时序约束
Synopsys DC综合流程、时序约束 (create_clock/set_input_delay/set_output_delay)、综合策略
综合
DC
27
形式验证与等价性检查
Formality使用流程、RTL-to-Gate等价性检查、常见问题调试
形式验证
Formality
28
后端实现与物理设计
布局规划 (Floorplan)、标准单元放置 (Placement)、时钟树综合 (CTS)、布线 (Routing)
后端
CTS
29
静态时序分析 (STA)
PrimeTime时序报告解读、建立时间/保持时间检查、时序修复方法
STA
PrimeTime
30
芯片测试与Bring-up
ATE测试向量生成、芯片上电流程、调试技巧 (逻辑分析仪/示波器)、回归测试策略
Bring-up
ATE