01
测试向量基础
什么是测试向量 · 测试向量的作用 · 与功能仿真的区别
概念入门
02
ATE测试平台概述
ATE基本架构 · 测试通道 · 测试周期 · 测试速率
平台硬件
03
STIL语言入门
STIL结构 · 时序定义 · Pattern定义 · 宏定义
语言标准
04
WGL语言入门
WGL结构 · 向量格式 · 事件格式 · 时序格式
语言波形
05
测试向量生成流程
RTL到测试向量 · DFT插入 · ATPG工具使用
流程DFT
06
ATPG基础
自动测试向量生成 · D算法 · PODEM · FAN
算法核心
07
故障模型
固定故障 · 跳变故障 · 桥接故障 · 延迟故障
故障建模
08
扫描链测试
扫描链原理 · 插入 · 向量生成 · 调试
扫描DFT
09
BIST技术
内建自测试 · MBIST · LBIST · 控制器设计
BIST存储器
10
边界扫描测试
JTAG标准 · 边界扫描寄存器 · BSDL · 测试向量
JTAG标准
11
测试压缩技术
数据压缩 · LFSR重播种 · X-tolerant · EDT
压缩EDT
12
测试向量格式转换
STIL↔WGL · VCD转向量 · 自定义格式
转换工具
13
测试向量调试基础
调试流程 · 常见问题 · 调试工具介绍
调试入门
14
时序调试
建立/保持时间违例 · 时钟域同步 · 多周期路径
时序STA
15
逻辑调试
逻辑错误定位 · X态传播 · 高阻态 · 驱动冲突
逻辑仿真
16
功耗调试
测试模式功耗 · IR Drop · 热效应 · 低功耗技术
功耗IR
17
ATE调试技巧
波形查看 · Shmoo图 · Fail Log · 调试脚本
ATE实战
18
测试向量优化
向量长度优化 · 测试时间 · 覆盖率 · 冗余消除
优化效率
19
DFT设计规则
DFT规则检查 · 违反修复 · 测试/观察点插入
DFT规则
20
测试覆盖率分析
故障/缺陷覆盖率 · 覆盖率模型 · 提升方法
覆盖率质量
21
存储器测试
存储器故障模型 · March算法 · BIST · 修复
存储器MBIST
22
模拟电路测试
模拟测试基础 · 参数测试 · ADC/DAC · PLL
模拟混合信号
23
高速接口测试
SerDes · DDR · PCIe · USB测试
高速接口
24
测试良率分析
良率模型 · 良率提升 · 测试逃逸 · DPPM
良率统计
25
测试成本优化
时间压缩 · 多站点 · 并行测试 · 设备选择
成本量产
26
测试向量自动化
Python脚本 · Tcl控制ATE · 自动化流程
自动化脚本
27
测试数据管理
测试数据库 · 可视化 · 大数据 · 机器学习
数据AI
28
测试标准与规范
IEEE 1149.1 · 1500 · 1687 · 1450
标准IEEE
29
先进测试技术
小延迟缺陷 · 功耗感知 · 自适应 · 在线测试
前沿研究
30
综合项目实战
设计到测试完整流程 · 项目规划 · 团队协作 · 交付物
项目综合