从RTL到GDS:数字芯片后端设计实战
📚 共计 30 章节
01
芯片设计流程概述
从RTL到GDS的完整链路,前端与后端的划分,设计规格书解读。
流程
概览
02
Linux与EDA工具环境
Linux基础命令,Makefile脚本入门,EDA工具(Synopsys/Cadence)环境配置。
环境
工具
03
RTL设计与综合概念
Verilog基础回顾,综合的基本概念,逻辑综合与物理综合的区别。
RTL
综合
04
逻辑综合(Synthesis)
DC(Design Compiler)综合流程,读入RTL,设置约束,编译与优化。
DC
约束
05
综合库与工艺库
目标库、链接库、符号库,工艺库(Liberty)文件解读,PVT条件。
库
Liberty
06
时序约束(SDC)
时钟定义(create_clock),输入输出延迟,伪路径与多周期路径。
SDC
时序
07
综合后检查
综合报告解读(面积、时序、功耗),网表质量检查,形式验证(Formality)入门。
检查
Formality
08
布局规划(Floorplan)
芯片面积估算,IO规划,宏单元(Memory)摆放,电源网络规划。
Floorplan
IO
09
电源网络设计(Power Planning)
电源环(Power Ring),电源条带(Power Strap),标准单元电源轨(Rail)。
电源
Ring
10
单元放置(Placement)
标准单元放置,拥塞度分析,时序驱动的放置,扫描链重排序。
Placement
拥塞
11
时钟树综合(CTS)
时钟树概念,时钟偏差(Skew)与抖动(Jitter),CTS工具(ICC2/Innovus)流程。
CTS
时钟
12
时钟树优化
时钟门控(Clock Gating),多时钟域处理,时钟树质量检查。
优化
门控
13
布线(Routing)
全局布线(Global Routing)与详细布线(Detail Routing),布线层与通孔,布线规则。
Routing
通孔
14
布线后优化
串扰(Crosstalk)修复,天线效应(Antenna Effect)修复,布线拥塞解决。
串扰
天线
15
静态时序分析(STA)
PrimeTime工具使用,建立时间与保持时间检查,时序路径分组。
STA
PrimeTime
16
时序收敛(Timing Closure)
关键路径分析,时序优化策略(尺寸调整、缓冲器插入、逻辑重组)。
收敛
优化
17
功耗分析(Power Analysis)
动态功耗与静态功耗,功耗分析工具(PTPX),低功耗设计技术。
功耗
PTPX
18
电压降与电迁移分析(IR Drop & EM)
IR Drop分析流程,电迁移规则检查,电源网络优化。
IR Drop
EM
19
物理验证(Physical Verification)
DRC(设计规则检查),LVS(版图与原理图一致性检查),Antenna检查。
DRC
LVS
20
可制造性设计(DFM)
OPC(光学邻近校正),CMP(化学机械抛光)影响,冗余通孔插入。
DFM
OPC
21
形式验证(Formal Verification)
等价性检查(LEC),RTL与网表对比,ECO验证。
Formal
LEC
22
ECO(工程变更单)
功能ECO与时序ECO,ECO流程,增量实现。
ECO
增量
23
多电压域设计(Multi-Voltage)
电压域划分,电平转换器(Level Shifter),隔离单元(Isolation Cell)。
多电压
Level Shifter
24
层次化设计(Hierarchical Design)
模块划分,顶层与子模块实现,黑盒(Black Box)处理。
层次化
黑盒
25
签核(Signoff)流程
时序签核,功耗签核,物理签核,签核标准与检查清单。
Signoff
签核
26
GDS生成与输出
GDS文件格式,StreamOut流程,掩模版(Mask)数据准备。
GDS
StreamOut
27
Tcl脚本在EDA中的应用
Tcl基础语法,常用EDA命令封装,自动化流程脚本。
Tcl
自动化
28
项目实战:RTL到GDS全流程演练
小型模块全流程演练,常见问题与调试技巧。
实战
调试
29
先进工艺节点挑战
FinFET工艺特点,7nm/5nm设计规则,先进节点时序与功耗挑战。
FinFET
7nm
30
职业发展与学习路径
后端工程师技能树,学习资源推荐,面试常见问题。
职业
面试