第1章
ATE测试概述
什么是ATE测试 · ATE在芯片量产中的角色 · 与设计验证测试的区别
概念基础
第2章
量产测试策略制定
良率与成本平衡 · 测试项优先级排序 · 测试时间优化思路
策略成本
第3章
测试硬件准备
Loadboard设计要点 · Socket选型 · 探针卡(Probe Card)基础
硬件设计
第4章
测试程序开发流程
从Pattern到Test Method · 测试向量生成 · 测试参数配置
开发流程
第5章
DC参数测试详解
接触测试(Contact) · 漏电流测试(Leakage) · 电源电流测试(IDD)
DC参数
第6章
数字功能测试
Functional Test · Scan Test · BIST测试原理与实现
数字功能
第7章
模拟与混合信号测试
ADC/DAC测试 · PLL测试 · LDO测试要点
模拟混合
第8章
高速接口测试
I2C/SPI/UART测试 · DDR测试 · SerDes测试基础
接口高速
第9章
良率分析入门
良率计算 · 良率损失定位 · 良率提升常用方法
良率分析
第10章
测试数据管理
STDF文件格式 · 数据解析 · 测试报告生成
数据管理
第11章
测试程序优化
减少测试时间的方法 · 并行测试 · 多工位测试
优化效率
第12章
测试硬件调试
Loadboard调试 · 信号完整性检查 · 电源完整性检查
硬件调试
第13章
测试程序调试
Pattern调试 · Timing调试 · Level调试
程序调试
第14章
量产导入流程
NPI阶段 · PVT阶段 · MP阶段 · 各阶段测试任务
流程导入
第15章
测试良率提升实战·案例1
接触不良导致良率偏低
实战良率
第16章
测试良率提升实战·案例2
电源噪声导致功能测试失效
实战噪声
第17章
测试良率提升实战·案例3
时序裕量不足导致高频失效
实战时序
第18章
测试程序版本管理
Git在测试程序中的应用 · 版本回退 · 分支管理
版本Git
第19章
测试设备维护
日常校准 · 定期维护 · 故障排查
设备维护
第20章
测试工程师与设计团队协作
DFT要求沟通 · 测试模式定义 · Pattern交接
协作DFT
第21章
测试工程师与生产团队协作
良率反馈 · 异常处理 · 流程优化
协作生产
第22章
ATE测试常用仪器
数字通道板 · 模拟板 · 射频板 · 电源板
仪器硬件
第23章
测试程序架构设计
模块化设计 · 参数化配置 · 复用性设计
架构设计
第24章
测试向量生成技巧
ATE Pattern格式 · 向量压缩 · 向量优化
向量技巧
第25章
测试时间分析
测试时间构成 · 瓶颈分析 · 优化策略
时间分析
第26章
测试成本控制
硬件成本 · 测试时间成本 · 维护成本
成本控制
第27章
测试覆盖率分析
故障模型 · 覆盖率计算 · 覆盖率提升方法
覆盖率质量
第28章
ATE测试的未来趋势
AI在测试中的应用 · 大数据分析 · 自动化测试
趋势AI
第29章
量产测试案例·MCU
某MCU芯片量产测试方案全流程
案例MCU
第30章
量产测试案例·PMIC
某PMIC芯片量产测试方案全流程
案例PMIC