客户流片支持常见问题应对
📚 共计 30 章节
01
流片前检查清单:设计规则检查(DRC)报告解读与常见错误处理
DRC 规则解析 · 典型违例修复 · 金属密度与间距
DRC
版图
02
流片前检查清单:版图与原理图一致性检查(LVS)报告解读与常见错误处理
LVS 比对 · 短路/断路排查 · 器件匹配
LVS
验证
03
流片前检查清单:天线效应检查与修复方法
天线比率 · 跳线/二极管修复 · 金属层切换
天线效应
可靠性
04
流片前检查清单:密度检查与金属填充策略
金属密度均匀性 · 虚拟填充 · CMP 平坦化
密度
DFM
05
流片前检查清单:ESD/Latch-up检查要点与常见问题
ESD 防护 · 闩锁效应 · guard ring 设计
ESD
LU
06
流片前检查清单:时序收敛检查与Sign-off标准
建立/保持时间 · 时序库 · 多模式分析
STA
Sign-off
07
流片前检查清单:功耗分析与IR Drop检查
动态/静态功耗 · 电源网络 · EM 评估
功耗
IR Drop
08
流片前检查清单:信号完整性(SI)分析与串扰检查
串扰噪声 · 传播延迟 · 屏蔽策略
SI
串扰
09
流片前检查清单:可制造性设计(DFM)规则检查
光刻热点 · 通孔覆盖 · 工艺窗口
DFM
良率
10
流片前检查清单:光刻工艺检查与OPC验证
OPC 模型 · SRAF · 光刻一致性
OPC
光刻
11
流片前检查清单:测试结构设计与良率分析
测试键 · 良率模型 · 失效分析
测试
良率
12
流片前检查清单:封装与基板设计检查要点
Bump 布局 · 基板层叠 · 热应力
封装
基板
13
流片前检查清单:IO Pad与供电网络设计检查
Pad 分配 · ESD 单元 · 电源环
IO
供电
14
流片前检查清单:时钟树综合(CTS)质量检查
时钟偏差 · 抖动 · 时钟门控
CTS
时钟
15
流片前检查清单:复位信号与异步处理检查
异步复位 · 同步器 · 亚稳态
复位
异步
16
流片前检查清单:跨时钟域(CDC)检查与同步器设计
CDC 路径 · 双锁存器 · 握手协议
CDC
同步
17
流片前检查清单:模拟与数字混合信号检查要点
噪声隔离 · 衬底耦合 · 混合仿真
混合信号
隔离
18
流片前检查清单:存储器(BIST/Repair)测试逻辑检查
MBIST · 冗余修复 · 内建自测
BIST
存储器
19
流片前检查清单:扫描链(Scan Chain)与ATPG检查
扫描插入 · 测试覆盖率 · 压缩
扫描链
ATPG
20
流片前检查清单:边界扫描(JTAG)与调试接口检查
JTAG 协议 · 边界寄存器 · 调试
JTAG
调试
21
流片前检查清单:电源域划分与电平转换器检查
多电压域 · 电平转换 · 隔离单元
电源域
电平转换
22
流片前检查清单:保险丝(eFuse)与修调电路检查
eFuse 编程 · 修调 · 冗余
eFuse
修调
23
流片前检查清单:温度传感器与监控电路检查
温度检测 · 热关断 · 精度校准
温度传感器
监控
24
流片前检查清单:PLL与时钟发生器检查要点
锁相环 · 抖动 · 环路滤波
PLL
时钟
25
流片前检查清单:ADC/DAC接口与精度检查
量化误差 · 信噪比 · 线性度
ADC
DAC
26
流片前检查清单:高速接口(SerDes/DDR)物理层检查
眼图 · 阻抗匹配 · 预加重
SerDes
DDR
27
流片前检查清单:芯片顶层连线规划与检查
顶层布线 · 电源网格 · 信号汇聚
顶层
连线
28
流片前检查清单:工艺角(Process Corner)仿真验证
FF/SS/TT · 蒙特卡洛 · 统计仿真
工艺角
仿真
29
流片前检查清单:可靠性测试(老化/EM/IR)检查
老化模型 · 电迁移 · IR 压降
可靠性
老化
30
流片前检查清单:最终GDSII数据提交与签核流程
GDS 输出 · 签核清单 · 掩模准备
GDSII
签核