ATE测试时序校准与参数调试实战
📚 共计 30 章节
01
ATE测试基础概念
什么是ATE测试 · 芯片产业位置 · 基本流程
入门
概念
02
时序校准核心原理
时序窗口 · 建立/保持时间 · 时序余量分析
核心
时序
03
ATE测试系统架构
测试头 · 探针台/分选机 · DIB/Load Board
系统
硬件
04
数字通道板卡详解
通道结构 · 驱动/比较电平 · 时序发生器
板卡
数字
05
周期与沿设置
测试周期 · 驱动沿/比较沿 · 多沿技巧
时序
配置
06
校准策略概述
系统/设备校准 · 频率与周期 · 文件管理
策略
管理
07
开路/短路测试
测试原理 · 方法 · 良率影响分析
O/S
良率
08
DC参数测试基础
漏电流 · IDDQ · VOH/VOL测试
DC
参数
09
时序参数测试方法
建立/保持时间 · 传输延迟测试
时序
测量
10
信号完整性基础
反射与振铃 · 串扰 · 传输线效应
SI
高频
11
校准参考板(Cal Kit)
参考板设计 · 校准路径 · 数据管理
硬件
校准
12
驱动电平校准
VIH/VIL校准 · 精度要求 · 失败排查
电平
驱动
13
比较电平校准
VOH/VOL校准 · 比较器偏移 · 温度补偿
比较
精度
14
时序沿校准
驱动/比较沿位置 · 沿精度验证
沿
校准
15
周期校准
周期精度 · 抖动测量 · 长期稳定性
周期
稳定
16
多通道一致性校准
通道偏差来源 · 校准方法 · 结果验证
通道
一致性
17
温度补偿校准
温度影响 · 补偿模型 · 实时策略
温度
补偿
18
负载板(DIB)参数调试
阻抗控制 · 走线匹配 · 去耦布局
DIB
硬件
19
测试程序调试基础
程序结构 · Pattern格式 · Timing文件
程序
基础
20
时序文件调试实战
语法 · 沿设置 · 多条件切换
时序
文件
21
Level文件调试实战
电平语法 · 设置调试 · 切换时序
电平
文件
22
Pattern调试技巧
生成方法 · 调试工具 · 验证流程
Pattern
调试
23
测试向量调试
向量格式 · 压缩技术 · 常见问题
向量
调试
24
参数调试方法论
二分法 · 边界扫描 · 数据驱动
方法
调试
25
良率分析基础
良率计算 · 损失分类 · 参数关系
良率
分析
26
参数调试与良率优化
参数边界 · 测试余量 · 提升案例
优化
良率
27
常见时序问题排查
冲突分析 · 漂移排查 · 裕度不足
时序
排查
28
ATE测试数据分析
数据采集 · 统计分析 · 可视化
数据
分析
29
测试程序优化
时间优化 · 覆盖率 · 可维护性
程序
优化
30
ATE测试发展趋势
新一代系统 · AI应用 · 自动化趋势
前沿
趋势