ATE测试工程师成长路线图

📚 共计 30 章节

ATE测试概述

什么是ATE测试 · 芯片产业链位置 · 职责与技能要求

半导体基础

PN结 · MOSFET · CMOS工艺 · 芯片制造流程

数字电路基础

逻辑门 · 组合/时序逻辑 · 状态机 · 常用数字IP

模拟电路基础

运放 · 比较器 · ADC/DAC · 电源管理芯片

测试基础理论

良率与缺陷 · 测试覆盖率 · 故障模型 · ATPG

ATE硬件架构

测试头 · 探针卡 · 负载板 · DUT板设计基础

主流ATE平台介绍

Teradyne · Advantest · Chroma 平台详解

测试程序开发流程

需求分析 · 计划制定 · 向量生成 · 调试验证

测试向量基础

STIL/WGL格式 · 向量转换 · 压缩 · 周期对准

接触测试 · 漏电流 · IDDQ · 输出驱动能力

建立/保持时间 · 传输延迟 · 频率 · 抖动

功能向量 · 调试 · 故障诊断 · 扫描链基础

扫描链 · JTAG · BIST · MBIST

存储器测试

存储器结构 · 故障模型 · March算法 · MBIST

存储器算法

混合信号测试

运放测试 · ADC INL/DNL · SNR/SFDR

射频测试基础

S参数 · 噪声系数 · IIP3 · EVM

电源管理芯片测试

LDO · DC-DC · 效率 · 负载调整率

传感器测试

MEMS加速度计 · 温度传感器 · 霍尔传感器

测试数据分析

良率分析 · Shmoo图 · 帕累托 · SPC

测试时间优化

并行测试 · 多站点 · 向量优化 · 硬件加速

ATE编程语言

STIL深入 · Pattern语言 · Python/Tcl脚本

ATE调试技巧

波形调试 · 时序调试 · 电压电流 · 常见问题

测试硬件设计

Load Board设计 · 信号/电源完整性 · 去耦电容

探针台与分选机

探针台操作 · 晶圆测试 · 分选机 · 最终测试

质量与可靠性

良率提升 · GR&R · Correlation · Qualification

质量可靠性

先进测试技术

SLT · Burn-in · 低温/高温 · 三温测试

测试自动化

数据管理 · 自动化流程 · 报告生成 · CI/CD

自动化DevOps

行业标准与规范

JEDEC · IEEE 1149.1/1500 · ISO 26262

成长路径 · 必备证书 · 行业会议与社区

综合项目实战

从零设计ATE方案：需求→程序→调试→量产