第1章
ATE测试概述
什么是ATE测试 · 半导体产业链位置 · 核心价值
概念全景
第2章
测试需求分析
解读DataSheet · 提取测试需求 · 编写Test Plan
规格计划
第3章
测试平台介绍
主流ATE平台架构对比 · 资源选型
TeradyneAdvantest
第4章
测试硬件设计(上)
Load Board & Probe Card基础 · DUT接口电路
硬件接口
第5章
测试硬件设计(下)
电源完整性 · 信号完整性 · 硬件调试验证
PISI调试
第6章
测试程序开发环境
ATE软件安装 · 工程创建 · 基本语法与API
环境API
第7章
DC参数测试(上)
开短路测试 · 漏电流测试
Open/ShortLeakage
第8章
DC参数测试(下)
IDDQ · 输出驱动能力VOH/VOL
电流驱动
第9章
数字功能测试基础
测试向量格式 · Pattern生成与加载
向量Pattern
第10章
数字功能测试进阶
时序Timing · 电平Levels · AC参数测试
时序AC
第11章
存储器测试基础
存储器结构 · March算法 · MBIST
MemoryMBIST
第12章
混合信号测试基础
ADC/DAC静态参数INL/DNL · 动态SNR/SFDR
混合信号INL/DNL
第13章
RF测试基础
射频参数 · S参数 · 功率与线性度
RFS参数
第14章
测试程序调试技巧
断点调试 · 变量监控 · 日志分析 · 排查
调试日志
第15章
良率分析与优化
Yield定义 · 损失分析 · 程序优化策略
良率优化
第16章
测试时间优化
并行Multi-site · 流程优化 · 向量压缩
Multi-site压缩
第17章
测试数据管理
STDF格式 · 数据解析 · 分析与可视化
STDF可视化
第18章
量产测试导入
EV阶段 · CHAR阶段 · MP阶段
EVCHARMP
第19章
测试硬件量产维护
Probe Card维护 · Socket更换 · Load Board校准
维护校准
第20章
测试程序版本管理
Git/SVN应用 · 版本回退 · 分支策略
GitSVN
第21章
ATE测试自动化
脚本自动化(Python) · 报告生成 · 回归测试
Python自动化
第22章
特殊测试技术
BIST · DFT协同 · 边界扫描测试
BISTDFT
第23章
车规级测试(AEC-Q100)
温度循环 · Burn-in · 可靠性要求
AEC-Q100可靠性
第24章
低功耗测试技术
DVFS测试 · 电源门控 · 漏电测试
低功耗DVFS
第25章
高速接口测试
PCIe · DDR · USB 测试挑战与方案
高速PCIe
第26章
测试成本分析
成本构成 · CP与FT对比 · 降本策略
成本CP/FT
第27章
跨团队协作
与设计/产品工程沟通 · 客户对接
协作沟通
第28章
ATE测试项目管理
计划制定 · 里程碑 · 风险与交付物
项目里程碑
第29章
测试报告撰写
报告结构 · 数据呈现 · 问题与改进
报告分析
第30章
ATE测试未来趋势
AI测试 · 大数据分析 · 新型架构展望
AI未来