量产测试向量生成与优化技巧
📚 共计 30 章节
01
向量基础与ATE架构
测试向量定义 · ATE机台架构 · WGL/STIL/VCD格式对比
基础
架构
02
向量生成流程
RTL→ATE全流程 · EDA工具原理 · ATPG算法基础
流程
ATPG
03
向量格式详解 (WGL)
WGL结构 · 时序定义 · 优化技巧
WGL
时序
04
向量格式详解 (STIL)
STIL结构 · 过程化向量 · WGL/STIL互转
STIL
兼容
05
向量压缩技术
压缩必要性 · LFSR/X-Tolerant/MISR · 压缩率权衡
压缩
算法
06
时序与波形优化
ATE时序设置 · 波形类型 · 减少ATE资源占用
时序
波形
07
向量调试与仿真
仿真vs ATE回放 · Fail Log分析 · 失效原因
调试
仿真
08
向量转换与验证
EDA→ATE转换 · Golden Vector比对 · 常见陷阱
转换
验证
09
向量优化策略
减少深度 · 提高覆盖率 · 良率影响
优化
策略
10
向量管理与版本控制
Git/SVN · 向量库复用 · ECO更新
管理
版本
11
向量与DFT结合
Scan Chain · BIST向量 · Boundary Scan
DFT
BIST
12
向量与功耗优化
低功耗向量 · 排序降功耗 · 功耗感知ATPG
功耗
低功耗
13
向量与良率分析
失效与良率 · 诊断向量 · 数据驱动良率
良率
诊断
14
向量与测试时间优化
并行测试 · 压缩与时间 · 预算平衡
时间
并行
15
向量与故障模型
Stuck-At · Transition · Bridging · Small Delay
故障
模型
16
向量与ATE内存管理
内存限制 · Pattern Paging · 循环/子程序
内存
分页
17
向量与ATE通道资源
通道数 · Channel Sharing · Pin Mapping
通道
复用
18
向量与ATE时序校准
校准影响 · Deskew · Per-Pin Timing
校准
时序
19
向量与ATE电平设置
VIH/VIL · 电平转换 · 动态电平调整
电平
VIH
20
向量与ATE负载板 (DIB)
DIB影响 · 信号完整性 · 寄生参数
DIB
SI
21
向量与ATE探针卡
探针卡影响 · 接触电阻 · 维护与稳定性
探针卡
接触
22
向量与ATE温度控制
温度影响 · 温度补偿 · 高低温优化
温度
补偿
23
向量与ATE电压变化
电压失效 · Voltage Shmoo · 电压频率协同
电压
Shmoo
24
向量与ATE噪声抑制
电源噪声 · 去耦电容 · 向量设计技巧
噪声
抑制
25
向量与ATE数据采集
Datalog设计 · 测试时间影响 · 高效采集
数据
采集
26
向量与ATE故障诊断
诊断向量 · 故障字典 · 向量驱动定位
诊断
字典
27
向量与ATE良率提升
优化案例 · 良率驱动调整 · 工艺偏差
良率
案例
28
向量与ATE成本控制
测试成本 · 深度成本模型 · 复用效益
成本
模型
29
向量与ATE自动化
Python/Tcl脚本 · 自动化验证 · 管理平台
自动化
脚本
30
向量与ATE未来趋势
AI驱动 · 大数据 · IEEE 1687/IJTAG
未来
AI