01
半导体寿命概论
什么是半导体器件寿命？为什么寿命测试如此重要？寿命测试的基本流程与标准（JEDEC、MIL-STD）。
基础标准
02
失效物理基础
半导体器件的主要失效机制（电迁移、热载流子注入、时间相关介质击穿、负偏压温度不稳定性）。
失效物理
03
加速寿命试验原理
阿伦尼乌斯模型、艾林模型、加速因子与激活能的概念。
加速模型
04
高温工作寿命测试
HTOL测试原理、测试条件设置、测试电路设计、数据采集方法。
HTOL高温
05
温度循环与热冲击测试
温度循环测试（TCT）与热冲击测试（TST）的区别、测试剖面设计、失效判据。
TCTTST
06
湿度敏感度测试
HAST与THB测试原理、偏压条件设置、防腐蚀机制评估。
HASTTHB
07
静电放电与闩锁效应测试
HBM/CDM模型、闩锁效应触发机制、测试等级与判定标准。
ESD闩锁
08
早期寿命评估
浴盆曲线理论、早期失效筛选（Burn-in）、筛选条件优化方法。
Burn-in浴盆曲线
09
寿命数据统计分析
威布尔分布、指数分布、对数正态分布的基本概念与适用场景。
分布统计
10
威布尔分析实战
形状参数、尺度参数、阈值参数的物理意义，概率图绘制方法。
Weibull概率图
11
寿命数据拟合方法
最小二乘法、最大似然估计法在寿命数据拟合中的应用。
MLE拟合
12
置信区间与可靠度区间
置信水平选择、双边/单边置信区间计算、可靠度函数推导。
置信区间可靠度
13
加速因子计算与验证
基于测试数据的加速因子提取方法、模型验证策略。
加速因子验证
14
寿命预测模型建立
从加速测试数据到实际使用条件的寿命外推方法。
外推预测
15
样本量与测试时间规划
统计抽样理论、测试时间与样本量的权衡、经济性分析。
抽样规划
16
失效分析技术
光学显微镜、扫描电子显微镜、聚焦离子束、能谱分析在失效定位中的应用。
SEMFIB
17
寿命测试自动化
自动化测试系统架构、LabVIEW/Python在测试控制中的应用。
LabVIEWPython
18
数据采集与管理系统
数据库设计、数据完整性保障、测试日志管理。
数据库日志
19
JMP软件在寿命数据分析中的应用
JMP软件操作、分布拟合、寿命回归分析。
JMP回归
20
Minitab在可靠性分析中的应用
Minitab操作、Weibull分析、加速寿命测试分析。
MinitabWeibull
21
Python在寿命数据分析中的应用
SciPy/Lifelines库使用、自定义分析脚本编写。
SciPyLifelines
22
半导体工艺对寿命的影响
工艺节点缩小带来的可靠性挑战、新材料的可靠性评估。
工艺新材料
23
封装可靠性测试
焊点疲劳、金线断裂、分层失效的测试与评估方法。
封装焊点
24
功率器件的寿命测试
功率循环测试、热阻测量、雪崩耐量测试。
功率雪崩
25
存储器的寿命测试
数据保持能力、读写耐久性、干扰测试。
存储器耐久
26
光电器件的寿命测试
LED光衰测试、激光器老化测试、光电探测器可靠性。
LED光衰
27
车规级器件的特殊要求
AEC-Q100标准解读、零缺陷目标、PPAP要求。
AEC-Q100车规
28
寿命测试报告撰写
报告结构、数据呈现技巧、结论与建议的撰写方法。
报告呈现
29
寿命测试中的常见陷阱
样本偏差、测试条件偏差、数据处理误区及规避方法。
陷阱偏差
30
综合案例实战
从测试计划制定到寿命评估报告输出的完整流程演练。
实战综合