01
显示驱动芯片概述
定义、分类（LCD/OLED/LED驱动）及手机、电视、车载应用
基础应用场景
02
显示驱动芯片架构
源极/栅极驱动、时序控制器、伽马校正、电源管理及数据流
架构模块
03
测试基础概念
ATE平台、功能/参数/可靠性测试、良率与覆盖率
ATE良率
04
DC参数测试
IDD、ILEAK、VOH/VOL、VIH/VIL 静态与漏电测试
直流阈值
05
AC参数测试
建立/保持时间、传输延迟、时钟频率、上升/下降时间
时序信号
06
时序测试
VSYNC/HSYNC、DE、PCLK抖动及时序分析
帧同步抖动
07
电源管理测试
LDO精度、DC-DC效率、上电掉电时序、纹波噪声
电源纹波
08
伽马校正测试
伽马曲线、灰阶电压、寄存器校准、温度漂移
伽马灰阶
09
源极驱动测试
通道一致性、电压摆幅、驱动能力、短路/开路检测
源极驱动
10
栅极驱动测试
行扫描时序、电荷共享、GOA电路、输出阻抗
栅极GOA
11
接口测试 (MIPI)
DSI物理层、差分信号、眼图、LP/HS模式切换
MIPI眼图
12
接口测试 (LVDS/eDP)
共模电压、差分摆幅、时钟对齐、链路训练
LVDSeDP
13
接口测试 (SPI/I2C)
寄存器读写、通信速率、从机地址、ACK/NACK
SPII2C
14
显示功能测试
彩条/灰阶/棋盘格、分辨率适配、刷新率验证
图像功能
15
色彩性能测试
色域覆盖率(NTSC/sRGB/DCI-P3)、色温、白平衡
色彩色域
16
亮度与对比度测试
最大/最小亮度、对比度比、9点/13点均匀性
亮度均匀性
17
响应时间测试
Tr/Tf、OLED响应、过冲/下冲、运动模糊
响应过冲
18
视角测试
亮度衰减、色偏、对比度变化、视角范围
视角色偏
19
功耗测试
静态/动态功耗、全白/全黑/视频模式、优化验证
功耗动态
20
ESD与闩锁测试
HBM/CDM、闩锁触发电流、I/O防护验证
ESD闩锁
21
温度特性测试
高/低温工作、温度循环、热阻、结温估算
温度热阻
22
可靠性测试
HTOL/LTOL/THB、加速老化、寿命验证
可靠性老化
23
ATE测试程序开发
测试向量、时序波形、模式配置、Pass/Fail逻辑
ATE向量
24
探针卡与负载板设计
悬臂/垂直探针、阻抗匹配、去耦电容、信号完整性
探针卡负载板
25
良率分析与失效定位
良率统计、Pareto、失效分类、FA流程
良率失效
26
自动化测试流程
Handler/Probe接口、程序调度、日志、SECS/GEM
自动化SECS/GEM
27
测试数据管理
数据库、SPC、报告生成、可追溯性
数据SPC
28
车规级测试特殊要求
AEC-Q100、零缺陷、温度Grade0/1/2、PPAP
车规AEC-Q100
29
新兴技术测试挑战
Micro LED、Mini LED分区、柔性显示、高频接口
新兴Micro LED
30
测试方案综合案例
规格书到量产方案、优先级排序、时间优化、成本控制
案例量产