01
芯片测试概述
芯片测试在产业链中的位置 · 测试的目的与意义 · 良率与成本的关系 · 测试工程师的职责与技能要求
产业链良率职责
02
测试基础理论
数字电路基础回顾 · 模拟电路基础回顾 · 信号完整性基础 · 测试测量基础概念
数电模电信号完整性
03
ATE测试平台
ATE系统架构 · 主流ATE平台介绍 (Teradyne、Advantest、Chroma) · ATE硬件组成 · ATE软件环境
TeradyneAdvantestChroma
04
测试程序开发流程
测试需求分析 · 测试计划制定 · 测试向量开发 · 测试程序调试 · 测试程序验证
开发流程向量验证
05
DFT设计基础
可测性设计概念 · 扫描链设计 · 边界扫描 · BIST技术 · DFT对测试的影响
扫描链BIST边界扫描
06
DC参数测试
开短路测试 · 漏电流测试 · 电源电流测试 · 输出驱动能力测试 · 输入阈值测试
DC漏电流阈值
07
AC参数测试
建立时间/保持时间测试 · 传输延迟测试 · 频率测试 · 抖动测试 · 时序裕量测试
时序抖动建立时间
08
功能测试
功能测试向量生成 · 功能测试模式 · 功能测试覆盖率 · 功能测试调试技巧
向量覆盖率调试
09
存储器测试
存储器结构 · 存储器故障模型 · March算法 · BIST在存储器测试中的应用 · 存储器修复
MarchBIST修复
10
混合信号测试
ADC/DAC测试基础 · 信噪比测试 · THD测试 · SFDR测试 · 混合信号测试挑战
ADCDACSFDR
11
RF测试基础
RF测试参数 · RF测试仪器 · RF测试挑战 · RF测试方案设计
射频仪器方案
12
良率分析
良率定义与计算 · 良率损失分析 · 良率提升方法 · 良率与测试的关系
良率损失提升
13
测试时间优化
测试时间构成分析 · 并行测试策略 · 多工位测试 · 测试向量优化 · 测试流程优化
并行多工位优化
14
测试成本控制
测试成本构成 · 测试成本模型 · 低成本测试方案 · 测试成本与质量平衡
成本模型低成本质量
15
测试数据管理
测试数据采集 · 测试数据分析 · 测试数据可视化 · 测试数据驱动的良率提升
数据可视化驱动
16
测试程序优化
代码优化技巧 · 测试流程优化 · 测试参数优化 · 测试程序维护
代码参数维护
17
测试硬件设计
探针卡设计 · 负载板设计 · Socket设计 · 测试硬件调试
探针卡负载板Socket
18
测试方案设计
测试策略制定 · 测试方案文档 · 测试方案评审 · 测试方案案例
策略文档评审
19
量产测试管理
量产测试流程 · 测试产线管理 · 测试质量控制 · 测试异常处理
产线质量异常
20
测试良率提升
系统性良率提升方法 · 良率提升案例 · 良率提升工具 · 良率提升团队协作
系统性案例协作
21
测试覆盖率
测试覆盖率定义 · 测试覆盖率计算 · 测试覆盖率提升 · 测试覆盖率与质量
覆盖率计算质量
22
测试可靠性
测试可靠性概念 · 测试可靠性评估 · 测试可靠性提升 · 测试可靠性案例
可靠性评估案例
23
测试自动化
测试自动化框架 · 测试自动化脚本 · 测试自动化工具 · 测试自动化实践
框架脚本工具
24
测试数据分析
统计分析基础 · SPC在测试中的应用 · 测试数据挖掘 · 测试数据驱动决策
SPC数据挖掘决策
25
测试标准与规范
JEDEC标准 · IEEE标准 · 行业测试规范 · 测试文档规范
JEDECIEEE规范
26
测试团队管理
测试团队组建 · 测试团队培训 · 测试团队绩效 · 测试团队协作
团队培训绩效
27
测试项目管理
测试项目计划 · 测试项目执行 · 测试项目监控 · 测试项目收尾
计划监控收尾
28
测试新技术
AI在测试中的应用 · 大数据测试 · 云测试 · 测试技术发展趋势
AI大数据云测试
29
测试案例实战
消费电子芯片测试案例 · 汽车电子芯片测试案例 · IoT芯片测试案例
消费电子汽车IoT
30
测试职业发展
测试工程师职业路径 · 测试技能提升 · 测试行业趋势 · 测试工程师成长建议
职业技能趋势