第1章
抗辐照芯片概述
辐射环境来源 · 辐射效应对芯片的影响 · 抗辐照设计挑战与验证必要性
辐射效应设计挑战
第2章
验证工具链总览
仿真验证流程 · 工具链组成 · 仿真器/波形查看器/覆盖率/形式化 · 选型考量
工具链流程
第3章
仿真环境搭建
Linux环境配置 · EDA工具安装(VCS/Xcelium) · License管理 · 基础仿真脚本
环境EDA
第4章
Verilog/SystemVerilog基础
HDL回顾 · 验证导向SV特性(接口/断言/随机化) · 可综合与不可综合代码
SV断言
第5章
UVM验证方法学入门
UVM核心概念(uvm_component/sequence/driver) · 树形结构 · 简单UVM平台搭建
UVM测试平台
第6章
抗辐照单元库建模
标准单元库(INV/NAND/DFF)行为模型 · 辐射效应(SET/SEU)注入 · 故障模型构建
单元库故障注入
第7章
单粒子效应故障注入
故障注入原理 · force/release语句 · SDF反标注入 · 基于UVM的故障注入
单粒子force
第8章
时序仿真与STA
SDF文件解析 · 门级网表时序仿真 · 静态时序分析(STA) · 抗辐照时序裕量
STASDF
第9章
覆盖率驱动验证
代码覆盖率(行/条件/翻转) · 功能覆盖率定义与收集 · 覆盖率闭环 · 抗辐照应用
覆盖率功能覆盖
第10章
断言与形式化验证
SVA基础 · 断言在抗辐照设计应用 · 形式化工具(JasperGold/VC Formal) · 属性检查
SVA形式化
第11章
数模混合仿真
混合信号仿真概念 · 模拟行为模型(Verilog-AMS/RNM) · ADC/PLL验证策略
混合信号AMS
第12章
功耗分析与验证
抗辐照芯片功耗特性 · 功耗仿真(VCD/SAIF) · UPF低功耗验证 · IR Drop分析
功耗UPF
第13章
后仿真与寄生参数
寄生参数提取(RC) · 后仿真流程 · 辐射效应敏感性分析 · 后仿真调试技巧
后仿真寄生
第14章
测试向量生成与ATE
ATE测试原理 · 扫描链测试 · MBIST · 向量格式(STIL/WGL)生成
ATEMBIST
第15章
寄存器传输级(RTL)验证
RTL仿真策略 · 抗辐照RTL设计规则检查 · 故障注入 · RTL与门级一致性
RTL一致性
第16章
验证计划与管理
验证计划(Verification Plan)编写 · 任务分解 · 进度跟踪 · 报告生成
管理计划
第17章
回归测试与自动化
回归脚本(Makefile/Python) · 自动化仿真框架 · CI/CD集成 · 结果分析
回归CI/CD
第18章
版本控制与协作
Git在验证中应用 · 分支管理 · 代码审查 · 多团队协作环境管理
Git协作
第19章
辐射源模拟与测试
辐射源类型(重离子/质子/中子) · 地面模拟测试 · 数据分析 · 仿真与实测相关性
辐射源实测
第20章
软错误率(SER)分析
SER计算方法 · 工艺节点影响 · SER仿真工具(TFIT/MUSCA-SEP3) · 降低技术
SER软错误
第21章
抗辐照加固技术验证
三模冗余(TMR)验证 · 纠错码(ECC)验证 · 看门狗定时器 · 加固有效性评估
TMRECC
第22章
片上传感器验证
辐射/温度/电压传感器行为模型 · 传感器接口验证 · 校准与测试
传感器校准
第23章
安全关键系统验证
功能安全标准(ISO 26262/DO-254) · FTA · FMEA · 安全机制验证
功能安全FTA
第24章
高级故障注入技术
基于FPGA故障注入 · 激光故障注入仿真 · 软件模拟注入 · 统计分析
FPGA激光
第25章
验证IP(VIP)开发
自定义VIP架构 · 总线协议VIP(AXI/APB) · VIP集成与复用 · 验证
VIPAXI
第26章
跨时钟域(CDC)验证
CDC问题与辐射效应关联 · CDC工具(SpyGlass/CDC) · 同步器验证 · 故障注入
CDC同步器
第27章
复位与初始化验证
复位电路抗辐照验证 · 上电复位(POR) · 初始化序列仿真 · 复位域交叉
复位POR
第28章
模拟IP验证策略
模拟IP(LDO/PLL/ADC)验证方法 · 数字接口验证 · 辐射效应建模与仿真
模拟IPLDO
第29章
验证结果分析与调试
波形调试技巧 · 日志分析 · 仿真性能优化 · 常见错误排查
调试波形
第30章
综合项目实战
从规格到验证全流程 · 项目文档 · 验证报告评审 · 课程总结与展望
实战全流程