01
抗辐照芯片概述
空间辐射环境 · 辐射效应分类 · 抗辐照芯片设计挑战
辐射环境设计挑战
02
测试向量基础
测试向量定义 · ATE测试原理 · 故障模型简介
ATE故障模型
03
单粒子效应测试
单粒子翻转(SEU)机理 · 单粒子闩锁(SEL)机理 · 测试方法
SEUSEL
04
总剂量效应测试
总电离剂量(TID)效应 · 测试标准与流程 · 加速测试方法
TID加速测试
05
扫描链测试技术
扫描链原理 · 扫描链插入 · 扫描链测试向量生成
扫描链DFT
06
内建自测试(BIST)
BIST架构 · 存储器BIST · 逻辑BIST
BIST存储器
07
ATPG算法基础
D算法 · PODEM算法 · FAN算法
ATPGPODEM
08
面向故障的测试生成
固定故障模型 · 过渡故障模型 · 路径延迟故障
故障模型延迟故障
09
抗辐照芯片的ATPG挑战
冗余结构处理 · 三模冗余(TMR)测试 · 时钟树测试
TMR时钟树
10
时序测试向量生成
时序ATPG · 时钟域交叉测试 · 异步电路测试
时序CDC
11
存储器测试算法
March算法 · 棋盘格算法 · 地址译码器测试
March存储器
12
模拟与混合信号测试
ADC/DAC测试 · PLL测试 · 电压基准测试
混合信号PLL
13
边界扫描测试
JTAG标准 · 边界扫描寄存器 · 指令集
JTAG边界扫描
14
测试压缩技术
响应压缩 · 输入压缩 · X-掩蔽
压缩X-mask
15
低功耗测试向量生成
功耗约束 · 测试模式功耗优化 · 门控时钟测试
低功耗门控时钟
16
测试调度与规划
测试时间优化 · 并行测试 · 资源分配
调度并行
17
ATE测试程序开发
测试程序结构 · 波形定义 · 时序设置
ATE波形
18
故障诊断与定位
故障字典 · 故障仿真 · 诊断测试向量
诊断故障字典
19
良率分析与测试
良率模型 · 测试覆盖率与良率关系 · 自适应测试
良率自适应
20
抗辐照芯片的可靠性测试
老化测试 · 早期失效测试 · 筛选测试
可靠性老化
21
测试向量质量评估
故障覆盖率 · 测试效率 · 测试向量冗余度
覆盖率冗余
22
形式化验证在测试中的应用
等价性检查 · 属性检查 · 测试生成
形式化等价性
23
机器学习在测试生成中的应用
ML辅助ATPG · 测试向量优化 · 故障预测
机器学习ATPG
24
片上测试系统
测试控制器设计 · 测试访问机制 · 测试数据管理
SOCTAM
25
3D IC测试挑战
硅通孔(TSV)测试 · 堆叠芯片测试 · 热效应测试
3D ICTSV
26
抗辐照芯片的辐射测试实验
粒子加速器测试 · 激光测试 · 中子源测试
辐射实验激光
27
测试标准与规范
MIL-STD-883 · ESA ESCC · JEDEC标准
标准MIL
28
测试向量自动化生成工具
TetraMAX · FastScan · TestKompress
EDATetraMAX
29
抗辐照芯片测试案例研究
星载处理器测试 · 宇航级FPGA测试
案例宇航
30
未来趋势
新兴辐射效应 · 先进工艺节点测试 · AI驱动的测试生成
未来AI