01
抗辐照芯片概述
什么是辐射效应 · 为什么需要抗辐照芯片 · 应用领域（航天、核工业、高能物理） · 课程框架
辐射效应应用场景
02
辐射环境与效应基础
空间辐射环境 · 银河宇宙射线 · 太阳质子 · 范艾伦带 · TID · SEE · 位移损伤
总剂量单粒子位移损伤
03
半导体器件辐射损伤机理
MOSFET损伤 · 阈值漂移 · 漏电流 · 跨导退化 · 双极器件 · SOI与体硅差异
MOSFETSOI双极
04
抗辐照工艺技术
加固工艺 · 薄栅氧 · 场氧加固 · STI加固 · SOI工艺 · 外延层工艺
工艺加固STISOI
05
抗辐照版图设计技术
环形栅(ELT) · 保护环 · 冗余接触孔 · 版图对称 · 抗闩锁版图
ELTGuard Ring抗闩锁
06
抗辐照数字标准单元库设计
标准单元加固 · 环形栅单元 · 时序与功耗 · 库特征化与建模
标准单元时序建模
07
抗辐照模拟与混合信号电路
带隙基准 · 运放 · 比较器 · ADC/DAC抗辐照设计
模拟混合信号ADC
08
抗辐照存储器设计
SRAM加固(DICE/HIT/TMR) · ROM · Flash辐射效应
SRAMDICEFlash
09
三模冗余（TMR）技术
TMR原理 · 表决器 · 局部/全局TMR · FPGA应用
TMR表决器FPGA
10
纠错编码（ECC）技术
汉明码 · BCH · RS码 · 存储器ECC · 控制器设计
ECC汉明码BCH
11
看门狗与自修复技术
看门狗定时器 · 自修复 · 冗余切换 · 状态机加固
看门狗自修复冗余
12
抗辐照FPGA设计
FPGA辐射敏感性 · TMR设计 · 配置存储器加固 · 部分重配置
FPGA配置存储重配置
13
辐射测试与评估方法
Co-60 · 质子/重离子源 · TID/SEE测试 · MIL-STD-883 · ESCC
测试标准重离子
14
抗辐照芯片设计流程
规格定义到流片 · 加固检查项 · 设计评审 · 辐射风险评估
设计流程评审风险评估
15
EDA工具在抗辐照设计中的应用
DRC · LVS · TCAD · SPICE辐射仿真
EDADRCTCAD
16
抗辐照芯片的封装与可靠性
封装材料影响 · 抗辐照封装 · 可靠性测试 · 寿命评估
封装可靠性寿命
17
抗辐照芯片的电源管理设计
LDO · DC-DC · 电源域划分 · 上电时序
LDODC-DC电源域
18
抗辐照芯片的时钟与复位设计
时钟网络辐射效应 · 抗辐照时钟树 · 复位电路 · 时钟门控
时钟树复位门控
19
抗辐照芯片的IO设计
IO接口辐射效应 · 抗辐照IO · ESD与加固协同 · 标准兼容
IOESD接口
20
抗辐照芯片的测试与验证
功能测试 · 辐射测试 · 老化测试 · ATE · 测试覆盖率
测试ATE覆盖率
21
可靠性建模与预测
Weibull · 指数分布 · 失效率 · 寿命预测 · 加速老化
可靠性Weibull加速老化
22
抗辐照芯片的失效分析
FMEA · 失效物理 · 辐射失效案例 · 失效定位
FMEA失效分析案例
23
抗辐照芯片的供应链管理
晶圆厂选择 · 工艺控制 · 质量保证 · 溯源管理
供应链晶圆厂质量
24
抗辐照芯片的认证与标准
航天级 · 核工业级 · MIL-STD-883 · ESCC · JEDEC
认证MIL-STDJEDEC
25
典型应用案例
卫星通信 · 核电站控制 · 高能物理探测器 · 深空探测
卫星核电站深空
26
功耗与散热设计
辐射环境功耗 · 散热设计 · 热管理 · 低功耗抗辐照
功耗散热低功耗
27
软错误率(SER)分析与缓解
SER建模 · 仿真 · 缓解技术 · SER测试
SER软错误缓解
28
先进工艺与未来趋势
FinFET · 纳米片 · RRAM/MRAM · AI在抗辐照设计
FinFETMRAMAI
29
项目实战（一）
需求分析 · 系统架构 · 模块划分 · 抗辐照策略 · 规格文档
实战架构文档
30
项目实战（二）
RTL编码 · 仿真 · 综合 · 版图验证 · 辐射测试计划 · 复盘
RTL版图复盘