模拟集成电路设计 · 实战目录

30章 从入门到流片
  • Virtuoso环境
  • IC设计流程
  • PDK安装配置
  • Editor界面
  • 元器件调用
  • Wire/Bus连线
  • Label/Pin
  • ADE L入门
  • DC工作点
  • 瞬态分析
  • 参数扫描
  • 原理图绘制
  • DC传输特性
  • 瞬态响应
  • 功耗延迟
  • 差分对搭建
  • 尾电流源
  • 有源负载
  • 共模/差模
  • 五管OTA
  • 开环增益/相位
  • ICMR仿真
  • 两级运放
  • Miller补偿
  • 摆率仿真
  • 噪声分析
  • Layout Editor
  • 图层与DRC
  • 基础器件版图
  • 共质心布局
  • 叉指结构
  • 虚拟器件
  • 匹配检查
  • DRC检查
  • LVS验证
  • 寄生提取PEX
  • 后仿真
  • 基本原理
  • 核心电路
  • 温度系数
  • PSRR仿真
  • 误差放大器
  • 功率管
  • 环路稳定性
  • 负载调整率
  • 环形振荡器
  • 三级环振
  • 频率调谐/相位噪声
  • LC振荡器
  • PLL架构
  • 鉴频鉴相器
  • 电荷泵设计
  • 环路滤波器
  • VCO设计
  • 整体瞬态
  • 锁定时间
  • Flash ADC
  • 比较器设计
  • 电阻梯
  • 编码器
  • CDAC电容阵列
  • 采样开关
  • 比较器/SAR
  • DNL/INL
  • 一阶SDM
  • 积分器设计
  • 量化器/DAC
  • SNR计算
  • 电流舵DAC
  • R-2R网络
  • 开关驱动
  • SFDR/THD
  • CML逻辑
  • LVDS驱动/接收
  • 预加重均衡
  • 眼图分析
  • DC-DC转换
  • PWM调制器
  • 电感电流检测
  • 效率仿真
  • S参数
  • Smith圆图
  • LNA设计
  • NF仿真
  • Gilbert混频器
  • 转换增益
  • PA线性度
  • PAE仿真
  • 工艺角TT/FF/SS
  • 失配蒙特卡洛
  • 良率估计
  • Corner文件
  • ESD保护
  • 天线效应
  • EM/IR Drop
  • Latch-up
  • 数字校准
  • 修调电路
  • BIST基础
  • Verilog-A建模
  • AMS环境
  • 数模混合流程
  • 跨域信号
  • SKILL语言
  • 自动版图
  • 参数化单元PCell
  • 设计自动化
  • 规格定义
  • 电路设计
  • 版图绘制
  • 流片检查
  • 系统架构
  • 子模块设计
  • 整体仿真
  • 测试方案