📡 传感器芯片测试验证
量产方案实战
📚 30章 · 完整体系
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01
传感器芯片概述
定义、分类（MEMS、CMOS、光电）、应用领域（消费电子、汽车、工业、医疗）
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02
测试验证基础理论
良率、覆盖率、测试时间、测试经济学（成本与收益分析）
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03
ATE测试平台介绍
主流ATE平台（Teradyne、Advantest、Chroma）、架构与工作原理
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04
测试硬件设计
Load Board、Probe Card、Socket设计要点、信号完整性考虑
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05
测试程序开发流程
测试计划制定、测试向量生成、测试程序架构设计
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06
DC参数测试
漏电流、电源电流、输出驱动能力、输入阈值测试
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07
AC参数测试
建立/保持时间、传播延迟、上升/下降时间测试
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08
功能测试
数字功能、模拟功能、混合信号测试策略
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09
MEMS传感器测试
加速度计、陀螺仪、压力传感器、麦克风测试
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10
CMOS图像传感器测试
暗电流、像素响应、动态范围、坏点检测
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11
温度传感器测试
精度校准、线性度、响应时间测试
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12
霍尔效应传感器测试
灵敏度、磁滞、温度漂移测试
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13
13
气体传感器测试
选择性、灵敏度、老化测试
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14
测试数据管理
数据采集、分析、统计过程控制(SPC)、良率分析
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15
测试程序优化
测试时间压缩、并行测试、多站点测试
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16
16
量产测试流程
CP测试（晶圆）、FT测试（最终）、SLT测试（系统级）
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17
晶圆测试（CP）
探针卡选择、晶圆级校准、晶圆图生成、良率映射
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18
最终测试（FT）
分选机接口、Handler编程、测试座维护、温度控制
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19
系统级测试（SLT）
系统板设计、固件测试、协议一致性测试
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20
测试良率提升
良率损失分析、帕累托分析、根本原因定位、纠正措施
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21
测试覆盖率分析
故障模型(Stuck-at, Transition, Bridging)、覆盖率计算、向量优化
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22
DFT（可测试性设计）
扫描链设计、BIST（内建自测试）、边界扫描（JTAG）
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量产测试自动化
测试机台自动化、数据上传自动化、报告生成自动化
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24
24
测试设备校准与维护
校准周期、校准标准、设备维护计划、备件管理
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25
测试规范与标准
JEDEC、AEC-Q100车规、ISO 26262功能安全
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26
车规级传感器测试
零缺陷策略、温度循环、老化、ESD测试
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27
测试数据安全
数据加密、访问控制、审计追踪、知识产权保护
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28
测试团队管理
技能要求、团队协作、知识管理、培训体系
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29
测试项目案例
消费级加速度计、车规级压力、医疗级温度传感器案例
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30
未来趋势
AI在测试中的应用、大数据分析、云测试平台、测试4.0
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