📘 日月光 · 测试程序开发与调试实战
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30章 从入门到实战
01
ATE测试概述
半导体测试流程
ATE测试的作用
日月光ATE平台介绍
02
测试程序架构
测试程序基本结构
Main Flow与Test Item
测试程序执行流程
03
测试开发环境搭建
操作系统配置
编译器安装
License配置
环境变量设置
04
测试语言基础 (上)
变量与数据类型
运算符与表达式
控制流语句
05
测试语言基础 (下)
函数定义与调用
数组与结构体
文件I/O操作
06
测试向量基础
向量格式解析
Timing Set定义
Level Set配置
07
Pattern生成与调试
Pattern语法
Pattern编译
Pattern调试技巧
08
DC参数测试 (上)
OS测试 (Open/Short)
VOH/VOL测试
IOH/IOL测试
09
DC参数测试 (下)
VIH/VIL测试
IDD静态电流测试
Leakage测试
10
AC参数测试
Setup/Hold Time测试
Propagation Delay测试
Rise/Fall Time测试
11
功能测试基础
Functional Test原理
Go/No-Go测试
Fail Log分析
12
存储器测试算法
March算法
Checkerboard算法
Address Decode测试
13
DFT测试基础
Scan Chain测试
BIST测试
Boundary Scan测试
14
混合信号测试基础
ADC/DAC测试基础
OPAMP测试
PLL测试基础
15
测试程序调试 (上)
Debug模式使用
Breakpoint设置
变量监视
16
测试程序调试 (下)
波形查看与分析
Shmoo图分析
Yield分析
17
测试数据管理
STDF文件格式
数据解析
报表生成
18
Multi-Site测试
Multi-Site原理
Site间同步
并行测试优化
19
测试程序优化
测试时间优化
Memory优化
代码复用技巧
20
Handler与Prober接口
Handler协议
Prober控制
温度控制
21
测试程序版本管理
Git基础
版本控制策略
CI/CD集成
22
良率提升实战
良率分析流程
常见失效模式
Correlation分析
23
测试程序文档规范
文档结构
注释规范
Release Note编写
24
ATE硬件基础
Pin Electronics
DPS
Timing Generator原理
25
Load Board设计基础
Load Board原理
Socket选型
Decoupling电容布局
26
Probe Card基础
Probe Card类型
针痕分析
Cleaning周期
27
测试程序安全
数据加密
访问控制
防篡改机制
28
自动化测试框架
Python脚本调用ATE
自动化回归测试
结果自动比对
29
先进测试技术
AI在测试中的应用
大数据分析
云测试平台
30
综合实战项目
从Spec到Release全流程
常见问题复盘
经验总结