⏱️ STA 全流程实战
30章
🧩 数字芯片 · 静态时序分析
v2.0
01
STA概述
静态时序分析
STA位置
vs动态仿真
02
时序单元基础
触发器结构
建立/保持时间
时序弧
03
时序库(liberty)入门
Liberty文件
PVT corner
NLDM/CCS
04
时序约束基础
create_clock
时钟延迟/不确定性
IO延迟
05
时钟特性分析
抖动&偏斜
时钟门控
时钟树影响
06
I/O接口时序
set_input_delay
set_output_delay
外部路径
07
时序路径分类
reg-to-reg
input-to-reg
reg-to-output
in->out
08
建立时间分析
检查公式
数据/时钟路径
最差情况
09
保持时间分析
检查公式
违例修复
与建立时间权衡
10
时序报告解读
报告结构
slack概念
violation定位
11
多周期路径
set_multicycle_path
保持调整
应用场景
12
伪路径与异步处理
set_false_path
异步时钟域
同步器
13
时钟域交叉(CDC)
CDC本质
双级FF/握手
验证方法
14
片上变异(OCV)
OCV概念
derate因子
CRPR悲观消除
15
高级OCV技术
AOCV原理
SOCV简介
POCV应用
16
时序例外综合
例外优先级
覆盖检查
常见错误
17
功耗感知STA
IR Drop影响
功耗&性能
低功耗分析
18
信号完整性(SI)分析
串扰延迟
噪声分析
SI修复
19
温度反转效应(TIR)
TIR原理
低温/高温表现
处理策略
20
STA流程自动化
Tcl脚本
约束脚本
自动报告
21
PrimeTime工具入门
启动配置
基本命令
时序库管理
22
PrimeTime高级功能
MMMC分析
ECO指导
功耗集成
23
Tempus工具使用
基本流程
与PT异同
高效技巧
24
STA与物理设计交互
布局布线后
时钟树后STA
ECO流程
25
时序收敛策略
违例类型
面积&性能平衡
迭代优化
26
工艺角分析
TT/SS/FF
温度反转角
最差组合
27
统计静态时序分析(SSTA)
SSTA原理
vs传统STA
统计分布
28
机器学习在STA中的应用
时序预测
违例分类
参数调优
29
先进工艺节点挑战
FinFET影响
7nm/5nm挑战
光刻效应
30
STA项目实战
完整流程演练
问题排查
交付清单