📘 工艺角 · PVT
时序分析 30 讲
🎯 从基础到实战
📚 30 章节
01
PVT基础概念
工艺·电压·温度
什么是PVT，为什么对芯片时序如此重要
02
工艺角详解
TT/FF/SS/FS/SF
工艺角含义与物理意义，经典五个角
03
电压与温度影响
IR Drop · TIR
电压对延迟影响，温度反转效应及时序影响
04
PVT组合与STA
Worst/Best Case
最差/最好情况PVT组合选择与分析
05
OCV与AOCV
片上波动
On-Chip Variation 与 Advanced OCV 引入
06
PVT项目应用
Setup/Hold
PVT条件选择，Sign-off标准
07
低功耗与PVT
Multi-VT · DVFS
多电压域设计，DVFS对时序影响
08
温度反转效应
TIR 深入
低温延迟变大，建模与应对
09
工艺角缩放与模型
28nm → 7nm
不同节点PVT模型变化趋势
10
PVT与功耗分析
动态·漏电
动态功耗、漏电功耗在不同PVT下的表现
11
PVT与时钟树
CTS · Skew
时钟偏差在不同PVT下的变化与优化
12
PVT与IO接口
DDR · SerDes
片外接口PVT分析与补偿
13
PVT与存储器
SRAM/ROM
存储器时序窗口在不同PVT下的裕量
14
PVT与模拟/混合信号
PLL · ADC
模拟模块对PVT的敏感性
15
PVT与可靠性
NBTI/PBTI
老化效应与PVT耦合，长期时序影响
16
PVT与SSTA
统计STA
为什么传统STA不够，SSTA考虑统计分布
17
PVT与设计余量
Margin
合理设置时序余量，避免过度设计
18
PVT与跨时钟域
CDC
异步信号在不同PVT下的同步可靠性
19
PVT与复位电路
异步复位
异步复位在不同PVT下的释放时序
20
PVT与测试
DFT · 扫描链
扫描链在不同PVT下的测试覆盖率
21
PVT与物理设计
PD · 热点
布局布线阶段PVT影响，避免热点
22
PVT与电源网络
PDN · IR Drop
IR Drop分析中的PVT耦合，优化电源网格
23
PVT与封装
寄生参数
封装寄生参数随温度变化，对时序影响
24
PVT与系统级验证
板级时序
芯片在系统板上的PVT表现，板级收敛
25
PVT与良率
Yield
PVT分布与良率关系，设计提升良率
26
PVT与ECO
工程变更
后期ECO中快速评估PVT影响
27
PVT与EDA工具
Synopsys/Cadence
主流工具中PVT设置与分析方法
28
PVT与标准单元库
Liberty · NLDM/CCS
库文件PVT视图，NLDM/CCS模型差异
29
PVT与机器学习
AI/ML
AI在PVT预测与优化中的应用趋势
30
PVT综合案例实战
SoC Sign-off
完整SoC芯片PVT分析流程与Checklist