时序分析 · 低功耗芯片设计
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30章 · 从入门到实战
01
低功耗设计概述
功耗来源
动态/静态功耗
摩尔定律与功耗墙
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02
时序分析基础
建立/保持时间
时钟偏斜
时钟抖动
时序路径分类
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03
标准单元库与功耗建模
标准单元库组成
功耗模型
Liberty文件解析
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04
功耗分析工具介绍
PrimeTime PX
SpyGlass Power
RedHawk
流程对比
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05
时钟门控技术
原理与实现
时序检查要点
踩坑分享
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06
多阈值电压技术
高/低阈值选择
时序与功耗权衡
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07
电压频率缩放 (DVFS)
工作原理
电压域划分
时序收敛挑战
项目案例
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08
电源门控技术
电源开关单元
保持寄存器
唤醒时序分析
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09
体偏置技术
FBB / RBB
对时序的影响
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10
多电压域设计
电压域划分策略
电平转换器
时序分析
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11
静态时序分析 (STA) 基础
STA流程
时序约束SDC
时序报告解读
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12
片上变化 (OCV) 与高级时序
OCV概念
Derating因子
AOCV / POCV
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13
功耗感知的时序约束
低功耗SDC约束
set_clock_gating_check
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14
时序与功耗的联合优化
逻辑综合优化
物理设计优化
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15
时钟树综合 (CTS) 与低功耗
时钟树功耗优化
有用偏斜技术
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16
寄存器重定时与功耗
重定时原理
动态功耗影响
实际应用
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17
数据路径优化
操作数隔离
数据门控
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18
存储器低功耗设计
存储器分块
睡眠模式
时序约束要点
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19
异步电路与低功耗
异步设计基础
握手协议
时序分析挑战
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20
近阈值/亚阈值设计
近阈值计算原理
时序退化
设计方法学
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21
功耗仿真与验证
功耗仿真流程
向量生成
功耗波形分析
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22
IR Drop 分析与时序
IR Drop影响
静态/动态分析
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23
电迁移 (EM) 与时序
EM效应
电流密度检查
时序裕量
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24
温度反转效应 (TIE)
TIE原理
低温/高温时序
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25
老化效应 (Aging) 与时序
NBTI/PBTI
时序退化预测
裕量设计
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26
工艺角 (PVT) 与低功耗
典型工艺角选择
低功耗工艺角时序
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27
机器学习在时序-功耗优化
ML预测模型
参数自动调优
案例分享
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28
低功耗芯片的测试时序
扫描链设计
低功耗测试模式
测试时序约束
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29
先进工艺低功耗时序挑战
FinFET特性
EUV影响
设计规则复杂性
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30
课程总结与项目实战
综合案例设计
RTL到GDS流程
常见问题FAQ
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