从零搭建DFT测试方案
📚 30章 · 动手学DFT
01
DFT概述
什么是DFT，为什么需要DFT，DFT在芯片设计流程中的位置。
02
测试基础理论
故障模型（Stuck-at、Transition、Bridging等），测试覆盖率概念。
03
扫描链设计基础
扫描链原理，扫描触发器，扫描链的插入与实现。
04
扫描链设计进阶
多扫描链，扫描链平衡，扫描链的时钟与复位处理。
05
ATPG基础
ATPG原理，D算法，PODEM算法，FAN算法简介。
06
ATPG实践
ATPG工具使用，测试向量生成，故障仿真与覆盖率分析。
07
边界扫描（JTAG）
IEEE 1149.1标准，TAP控制器，指令寄存器与数据寄存器。
08
JTAG应用
板级测试，芯片调试，Flash编程等。
09
BIST基础
什么是BIST，BIST架构，LFSR与MISR原理。
10
Memory BIST
Memory故障模型，MBIST控制器设计，March算法。
11
Logic BIST
Logic BIST架构，STUMPS结构，伪随机测试与确定性测试。
12
测试压缩
测试数据压缩原理，X-tolerant压缩，EDT技术。
13
测试功耗
测试模式下的功耗问题，低功耗DFT技术，门控时钟与电源门控。
14
DFT时序分析
测试模式下的时序约束，STA for DFT，时钟树与扫描链时序。
15
DFT与物理设计
DFT与布局布线，扫描链的物理实现，时钟树综合。
16
DFT验证
DFT仿真，测试向量验证，形式化验证方法。
17
ATE测试
ATE设备原理，测试程序开发，测试向量格式（STIL, WGL等）。
18
良率分析与测试
良率模型，测试与良率的关系，良率提升策略。
19
DFT for Analog/Mixed-Signal
模拟测试基础，ADC/DAC测试，PLL测试。
20
DFT for High-Speed I/O
高速接口测试，SerDes测试，抖动与眼图测试。
21
DFT for SoC
SoC测试挑战，芯核测试，测试调度与测试访问机制。
22
DFT for 3D IC
3D IC测试挑战，TSV测试，堆叠芯片测试。
23
DFT for Automotive
车规芯片测试要求，功能安全与DFT，ISO 26262。
24
DFT for AI/ML芯片
AI芯片测试特点，神经网络加速器测试，容错设计。
25
DFT脚本与自动化
Tcl脚本在DFT中的应用，自动化流程搭建，Makefile管理。
26
DFT工具链
Synopsys DFT Compiler，Mentor Tessent，Cadence Modus。
27
DFT项目实战（一）
项目需求分析，DFT架构规划，扫描链设计实例。
28
DFT项目实战（二）
ATPG与测试向量生成，BIST集成，测试覆盖率优化。
29
DFT项目实战（三）
ATE测试程序开发，良率分析，问题调试。
30
DFT前沿与未来
机器学习在DFT中的应用，自适应测试，测试数据挖掘。