🔬 Scan Chain 设计·调试
30章 完全指南
🧪 友好 · 色彩实验室
01
Scan Chain 概述
什么是扫描链
为什么需要
基本原理
02
扫描触发器
触发器结构
D型改造
扫描使能
03
扫描链插入流程
综合前准备
RTL规范
DFT编译器
04
时钟与复位
时钟域划分
扫描时钟
异步复位同步释放
05
测试模式
Shift模式
Capture模式
测试时钟控制
06
测试向量生成
ATPG基础
自动生成流程
故障模型
07
时序分析
扫描路径时序
保持时间
建立时间
08
功耗优化
低功耗扫描
时钟门控
扫描链分组
09
压缩技术
测试数据压缩
解压器设计
压缩比计算
10
调试方法
失效分析
诊断流程
调试工具
11
故障诊断
故障定位
故障类型
诊断分辨率
12
边界扫描
JTAG标准
边界扫描寄存器
TAP
13
良率分析
良率损失原因
扫描链影响
优化策略
14
EDA工具
Synopsys DFT
Cadence Modus
Mentor Tessent
15
脚本自动化
Tcl脚本
流程自动化
回归测试
16
验证方法
形式验证
仿真验证
等价性检查
17
物理设计
布局布线
物理约束
时钟树综合
18
DFT规则检查
规则类型
检查方法
违规修复
19
测试接口
测试模式进入
测试时钟
数据输入输出
20
片上测试
BIST技术
存储器BIST
逻辑BIST
21
测试成本
测试时间
测试设备
向量存储
22
先进工艺挑战
FinFET影响
电压温度变化
工艺偏差
23
跨时钟域处理
CDC同步器
扫描链CDC
亚稳态
24
模拟混合信号
混合信号测试
模拟扫描链
数字辅助
25
测试标准
IEEE 1149.1
IEEE 1500
IEEE 1687
26
可靠性测试
老化测试
ESD测试
热载流子
27
调试案例
项目案例分析
常见问题
解决方案
28
未来趋势
AI辅助测试
自适应测试
3D IC测试
29
团队协作
设计&测试团队
版本管理
文档规范
30
综合实战
RTL到测试报告
完整项目流程
经验总结
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