ATE测试程序开发与调试实战
📘 30章 · 从入门到项目
01
ATE测试概述
什么是ATE测试
芯片产业中的位置
基本流程
02
测试机台介绍
Teradyne/Advantest/Chroma
DIB·PE·PMU·DPS
03
测试程序开发环境搭建
IG-XL/VBT安装
第一个工程
IDE界面
04
测试向量基础
什么是测试向量
STIL/WGL格式
生成与加载
05
DC参数测试 (上)
开短路测试
漏电流测试
原理与实现
06
DC参数测试 (下)
IDD/ICC测试
VOH/VOL
VIH/VIL
07
AC参数测试
Setup/Hold Time
Propagation Delay
上升/下降时间
08
功能测试 (上)
功能测试原理
Pattern Based
Go/No-Go
09
功能测试 (下)
Fail Logging
Shmoo分析
多Site并行
10
测试程序架构设计
模块化编程
Main/Sub Flow
测试项复用
11
Python基础 (ATE)
变量与数据类型
控制流
if/for/while
12
Python进阶 (ATE)
函数与模块
文件读写
异常处理
13
C#/VB.NET基础
面向对象基础
事件驱动
ATE API交互
14
C#/VB.NET进阶
多线程编程
WinForm/WPF
数据库交互
15
调试技巧 (上)
断点调试
变量监视
单步执行
16
调试技巧 (下)
日志系统
错误码定义
常见Bug排查
17
测试数据管理
STDF/ATDF格式
数据分析与可视化
良率统计
18
测试时间优化
并行测试策略
向量压缩
流程优化
19
DIB设计与调试
DIB原理与设计
调试流程
信号完整性
20
校准与验证
机台校准
测试程序验证
Golden Device
21
量产测试支持
Release流程
产线异常处理
Holding Lot
22
特殊测试 (上)
存储器MBIST
模拟IP测试
ADC/DAC
23
特殊测试 (下)
RF测试基础
高速接口PCIe/DDR
24
测试覆盖率分析
Stuck-at/Transition
覆盖率计算
ATPG基础
25
测试程序版本控制
Git在ATE应用
版本管理策略
多人协作
26
自动化测试框架
Python自动化框架
CI/CD集成
27
ATE测试中的DFT
扫描链测试
边界扫描JTAG
BIST
28
低功耗测试
Power Gating
DVFS测试
29
可靠性测试
Burn-in老化
ESD测试
HTOL/ELFR
30
综合实战项目
从Spec到Release
项目答辩与总结