DFT设计验证与仿真方法 · 课程目录

📚 30个实战章节 ⚡ 扫描链 · ATPG · JTAG · BIST 🧪 项目案例 + 自动化脚本

01

DFT概述概念

什么是DFT？为什么需要DFT？芯片设计流程中的位置。

02

测试基础概念故障

故障模型 (Stuck-at, Transition, Bridging) · 测试覆盖率 · ATPG概念

03

扫描链设计Scan Chain

扫描链原理 · 扫描触发器 · 扫描输入输出 · 使能控制

04

扫描链插入流程实现

RTL准备 · 综合工具设置 · 插入命令 · 验证连接

05

ATPG与测试向量生成向量

ATPG工具 · STIL/WGL格式 · 故障仿真

06

扫描链测试与调试调试

测试模式 · Shift/Capture测试 · 故障诊断

07

边界扫描 (JTAG)IEEE 1149.1

TAP控制器 · 指令寄存器 · 边界扫描寄存器

08

JTAG应用与调试BSDL

JTAG链配置 · BSDL文件 · 边界扫描测试 · 在线编程

09

内建自测试 (BIST)BIST

BIST原理 · LFSR · MISR · Memory BIST架构

10

Memory BIST实现MBIST

MBIST控制器 · March C/C-算法 · 修复机制

11

Logic BISTLBIST

Logic BIST架构 · PRPG · MISR · 测试点插入

12

测试压缩技术压缩

数据压缩 · X-tolerant · X-compact · OCC

13

片上时钟控制 (OCC)OCC

OCC原理 · PLL控制 · 时钟门控 · at-speed测试

14

DFT时序分析时序

扫描链时序约束 · 保持时间修复 · 时钟树影响

15

低功耗DFT设计低功耗

电源门控 · 电压域隔离 · 低功耗扫描链 · MTCMOS

16

DFT与物理设计物理

布局布线影响 · 扫描链重排序 · 时钟布线

17

DFT验证方法学验证

形式验证 · 等价性检查 · DFT规则检查

18

DFT仿真环境搭建仿真

工具选择 · 测试平台架构 · 波形调试

19

测试向量仿真SDF

功能仿真 vs 测试仿真 · SDF反标 · 时序仿真

20

故障仿真与覆盖率覆盖率

故障注入 · 故障模拟 · 覆盖率报告解读

21

ATE测试与向量转换ATE

ATE流程 · 向量格式转换 · 测试时间优化

22

DFT设计文档与规范规范

DFT设计规范 · 测试计划文档 · 评审流程

23

实战案例1：小型SoC项目

小型SoC的DFT设计全流程

24

实战案例2：高速接口DDR/SerDes

高速接口 (DDR, SerDes) 的DFT设计

25

实战案例3：模拟混合信号混合信号

模拟混合信号芯片的DFT策略

26

DFT自动化脚本Tcl

Tcl脚本在DFT中的应用 · 流程自动化

27

DFT工具深入工具对比

Tessent · DFT Compiler · TestMAX 对比

28

DFT发展趋势前沿

2.5D/3D IC测试 · Chiplet · AI辅助DFT

29

DFT面试与职业发展职业

常见面试题 · 技能树 · 职业路径

30

课程总结与项目答辩结项

综合项目实践 · 成果展示 · 答疑