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光收发芯片
设计与调试实战
⚡ 30章 完整课程 · 从基础到案例
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友好色系
01
光通信基础
系统
光通信系统架构 · 收发芯片位置 · 速率/灵敏度/功耗
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02
光收发芯片概述
架构
TOSA/ROSA · PIC与EIC · SiPh/InP/GaAs工艺
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03
激光器驱动电路设计
驱动
VCSEL/DFB特性 · 直接/外调制 · 偏置电流设置
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04
跨阻放大器TIA设计
模拟
TIA基本原理 · 噪声与带宽权衡 · 差分/单端结构
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05
限幅放大器与CDR
时钟
LA增益带宽 · CDR的PLL · 锁定与抖动指标
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06
SerDes接口设计
高速
NRZ/PAM4 · 预加重与均衡 · CTLE/DFE原理
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07
模拟前端AFE集成
级联
TIA+LA+CDR级联 · 增益分配 · 直流失调消除
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08
数字信号处理DSP基础
算法
PAM4 DSP链路 · FEC编解码 · 均衡器与滤波器
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09
工艺与版图
版图
PDK使用 · MZI/光栅耦合器 · 有源器件版图
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10
芯片封装与光耦合
封装
光纤阵列耦合 · 透镜封装 · 气密封装散热
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11
测试系统搭建
仪器
误码仪 · 采样示波器 · 光谱仪 · 光功率计
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12
眼图测试与分析
眼图
眼图张开度 · 抖动分解 · 浴盆曲线 · 模板测试
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13
灵敏度与过载测试
性能
灵敏度定义 · 过载点测量 · 动态范围评估
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14
抖动测试
时域
RJ/DJ分离 · TIE与相位噪声 · 抖动传递函数
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15
功耗与热测试
热管理
芯片功耗分解 · 热阻测量 · 温度循环可靠性
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16
EMI/EMC测试
电磁
辐射/传导发射 · 屏蔽设计 · PCB布局影响
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17
芯片调试基础
入门
调试流程 · 万用表/示波器/频谱仪 · 安全规范
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18
电源域调试
电源
LDO纹波 · 电源噪声对TIA影响 · 去耦电容布局
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19
高速信号链路调试
信号
S参数 · 阻抗匹配 · 回波损耗 · 信号完整性
→
20
激光器驱动调试
光调
偏置/调制电流 · 光功率监控 · 消光比优化
→
21
TIA调试
放大
跨阻增益校准 · 带宽调整 · 噪声抑制 · 饱和恢复
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22
CDR锁定调试
时钟
参考时钟选择 · 环路带宽 · 锁定检测与失锁恢复
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23
DSP调试
数字
均衡器系数 · FEC纠错 · ADC/DAC校准
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24
固件与上位机调试
软件
I2C/SPI通信 · 寄存器读写 · 自动化测试脚本
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25
常见故障排查（一）
排故
无光输出 · 光功率异常 · 眼图闭合 · 灵敏度差
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26
常见故障排查（二）
排故
误码率高 · 抖动大 · 功耗超标 · 温度保护触发
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27
量产测试与良率提升
量产
ATE测试方案 · 良率分析 · 统计过程控制SPC
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28
可靠性验证
可靠
加速老化 · ESD/LU测试 · 湿度敏感度MSL
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29
行业标准与认证
标准
IEEE 802.3 · OIF · MSA · FCC/CE认证
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30
案例实战：400G DR4
实战
全流程调试 · 问题复盘 · 经验总结
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