AI芯片量产测试 · 实战目录
30章 · 从入门到量产
01
AI芯片测试概述
AI芯片架构特点
量产测试重要性
测试流程全景图
02
ATE测试平台基础
Teradyne/Advantest/Chroma
测试头与DUT板卡
03
测试程序开发环境搭建
Python/C++混合编程
SDK安装配置
Hello World测试
04
数字通道配置
通道映射
电平规范
时序规范
05
向量生成与加载
WGL/STIL解析
向量压缩
加载时序优化
06
DC参数测试
漏电流测试
电源电流IDDQ
开短路测试
07
AC参数测试
建立/保持时间
输出延迟
上升/下降时间
08
功能测试基础
功能向量编写
Pass/Fail判定
Functional/Schmoo
09
存储器测试
MBIST集成
March算法
修复与冗余分析
10
高速接口测试
SerDes测试
眼图测量
误码率BERT
11
模拟IP测试
ADC/DAC测试
PLL抖动
温度传感器校准
12
DFT（可测性设计）配合
Scan Chain
Boundary Scan JTAG
ATPG向量
13
多站点并行测试
Multi-site硬件
并行调度算法
良率平衡
14
测试程序架构设计
模块化编程
配置驱动模式
测试项管理框架
15
测试数据管理
STDF/ATDF格式
数据库存储
实时可视化
16
良率分析
Bin分类策略
Shmoo图
帕累托图
17
测试时间优化
并行测试深度
向量压缩技术
智能排序
18
温度测试
三温测试
温度补偿算法
热管理策略
19
老化测试（Burn-in）
老化板设计
动态老化模式
老化后测试验证
20
SLT（系统级测试）
SLT测试板设计
操作系统加载
应用级测试用例
21
测试程序调试
断点调试
波形抓取分析
日志系统设计
22
测试硬件调试
DUT板信号完整性
电源完整性调试
探针卡调试
23
测试程序版本管理
Git分支策略
CI/CD
版本回滚
24
测试规范文档
测试计划编写
测试报告模板
良率报告自动化
25
AI芯片特殊测试
NPU计算精度
张量核心验证
AI Benchmark
26
低功耗测试
DVFS测试
电源域切换
睡眠唤醒测试
27
安全测试
安全启动验证
加密引擎测试
PUF测试
28
车规级测试
AEC-Q100标准
零缺陷策略
PPAP文档
29
测试程序移植
EVT到MP演进
跨平台移植
30
量产测试管理
测试产能规划
良率爬坡
成本控制优化