01
光器件寿命测试概述
为什么要做寿命测试？基本概念、失效模式与机理。
基础失效分析
02
加速寿命试验理论基础
阿伦尼乌斯模型、加速因子、激活能的概念与计算。
模型数学
03
温度加速寿命试验
高温老化方案设计、温度应力选择、试验箱操作规范。
高温实操
04
湿度加速寿命试验
双85试验、温湿度偏置、凝露控制与防护。
湿度双85
05
机械应力寿命试验
振动、冲击、跌落试验的标准与方法。
机械环境
06
光功率与电流应力试验
APC老化、恒定光功率驱动、电流过载测试。
光应力驱动
07
静电放电(ESD)寿命评估
人体模型、机器模型、器件级ESD测试流程。
ESD敏感
08
焊接热应力寿命试验
回流焊温度曲线、热冲击、焊点可靠性评估。
焊接热应力
09
光纤耦合与对准可靠性
光纤位移测试、耦合效率退化、对准机构寿命。
耦合光纤
10
密封与气密性测试
氦质谱检漏、粗检漏、密封失效对寿命的影响。
密封检漏
11
随机振动与扫频振动试验
PSD谱设置、共振点搜索、振动耐久性评估。
振动频谱
12
温度循环与热冲击试验
温变速率、循环次数、热失配失效分析。
循环热冲击
13
混合气体腐蚀试验
硫化氢、二氧化硫、氯气环境下的寿命评估。
腐蚀气体
14
紫外辐照老化试验
UV辐射对封装材料、透镜、胶水的影响。
紫外老化
15
寿命数据采集与记录
数据采集系统搭建、采样频率、数据完整性保障。
数据采集
16
失效分析技术
光学显微镜、SEM、EDX、红外热成像在寿命分析中的应用。
分析显微
17
威布尔分布与寿命建模
威布尔参数估计、失效率曲线、MTTF计算。
统计威布尔
18
对数正态分布与寿命建模
对数正态分布拟合、置信区间、可靠度函数。
分布建模
19
寿命试验样本量设计
统计抽样、置信水平、样本量与试验时间的关系。
抽样设计
20
定时截尾与定数截尾试验
试验终止条件、截尾数据处理、无失效数据分析。
截尾数据
21
竞争失效模型
多种失效模式并存时的寿命预测、最小寿命原理。
竞争多模式
22
加速因子计算与验证
多应力加速模型、加速因子外推、验证试验设计。
加速验证
23
寿命外推与预测方法
从加速应力到正常应力的转换、预测区间计算。
外推预测
24
可靠性增长试验
试验-改进-再试验循环、Duane模型、增长曲线绘制。
增长Duane
25
光器件寿命指标分解
系统可靠性指标分配到器件、寿命指标验证方案。
指标分解
26
寿命测试报告编写
报告结构、数据呈现、结论与建议、常见错误规避。
报告规范
27
行业标准解读
Telcordia GR-468、GR-1221、MIL-STD-883核心要求。
标准Telcordia
28
寿命测试实验室建设
设备选型、环境控制、人员资质、质量管理体系。
实验室建设
29
光模块寿命测试案例
10G/25G/100G光模块的寿命验证实战分析。
案例光模块
30
激光器芯片寿命测试案例
FP/DFB/VCSEL芯片的寿命评估与对比。
芯片激光器