01
材料分析仪器导论
课程概述 · 材料分析重要性 · 光谱/色谱/质谱/热分析/显微分类 · 仪器选型原则
导论分类
02
实验室安全与规范
通用安全 · MSDS · 高压气瓶/高温设备 · 辐射激光 · 废弃物处理
安全MSDS
03
样品制备基础
固体(研磨/压片/镶嵌) · 液体(稀释/过滤/消解) · 气体采集 · 标记追溯
制样前处理
04
紫外-可见分光光度计 (UV-Vis)
朗伯-比尔定律 · 光源/单色器/检测器 · 基线校正 · 故障排除
UV-Vis操作
05
紫外-可见分光光度计数据解读
吸收光谱特征 · 标准曲线/标准加入法 · 指纹图谱 · 误差分析
定量定性
06
傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR)
干涉图与光谱 · 迈克尔逊干涉仪 · ATR附件 · 参数设置
FTIRATR
07
傅里叶变换红外光谱数据解读
官能团区/指纹区 · 羰基/羟基/胺基归属 · 谱图解析 · 谱库检索
官能团解析
08
拉曼光谱仪
斯托克斯/反斯托克斯 · 与红外互补 · 激光源/CCD · 荧光抑制
拉曼散射
09
拉曼光谱数据解读
拉曼位移 · 特征峰识别 · Mapping成像 · 荧光/热效应处理
成像干扰
10
原子吸收光谱仪 (AAS)
基态原子吸收 · 空心阴极灯/原子化器 · 火焰/石墨炉 · 操作流程
AAS原子化
11
原子吸收光谱数据解读
标准曲线 · 灵敏度/检出限 · 光谱/化学/物理干扰 · 加标回收
干扰质量控制
12
电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES)
等离子体激发 · 炬管/射频发生器 · 射频功率/气体流量优化
ICP-OES发射
13
电感耦合等离子体质谱 (ICP-MS)
离子源/四极杆 · 碰撞/反应池 · 调谐/质量校准 · 同量异位素干扰
ICP-MS质谱
14
ICP-MS数据解读
半定量/定量 · 内标法 · 背景等效浓度 · 精密度/准确度
内标数据质量
15
气相色谱仪 (GC)
分配系数 · 进样口/色谱柱/检测器 · FID/TCD/ECD/MS · 升温程序
GC检测器
16
气相色谱数据解读
保留时间/峰面积 · 保留指数 · 面积归一/外标/内标 · 分离度/拖尾
定量分离度
17
液相色谱仪 (HPLC)
高压泵/进样器/色谱柱 · UV/DAD/荧光/ELSD · 梯度洗脱
HPLC流动相
18
液相色谱数据解读
理论塔板数/不对称因子 · 方法验证 · 基线漂移/峰分叉/鬼峰
验证故障
19
质谱仪基础 (MS)
EI/CI/ESI/APCI/MALDI · 四极杆/离子阱/TOF/轨道阱 · 串联质谱
离子化质量分析器
20
质谱数据解读
分子离子/碎片/同位素峰 · 氮规则 · NIST/Wiley谱库检索
碎片谱库
21
热重分析仪 (TGA)
质量随温度变化 · 天平/炉体/气氛 · 升温速率 · 热稳定性/组分
TGA热重
22
差示扫描量热仪 (DSC)
热流差 · 测量池/参比池 · 熔点/玻璃化转变/结晶度
DSC热分析
23
TGA-DSC数据解读
失重台阶/DTG · 吸放热峰 · TGA-DSC-MS联用 · 浮力效应/基线
联用伪迹
24
扫描电子显微镜 (SEM)
电子束扫描 · 二次电子/背散射 · 电子枪/电磁透镜 · 消像散
SEM显微
25
能谱仪 (EDS/EDX)
特征X射线 · SEM联用 · 加速电压/计数率 · 元素分布图/半定量
EDS元素
26
X射线衍射仪 (XRD)
布拉格定律 · X射线源/测角仪 · 样品平整度 · PDF卡片检索
XRD物相
27
XRD数据解读
峰位/峰强/半高宽 · RIR/Rietveld · 谢乐公式 · 晶格参数
精修晶粒
28
综合数据分析策略
多仪器关联(SEM-EDS+XRD+TGA) · 归一化/标准化 · 异常值 · 报告规范
综合报告
29
仪器维护与校准
日常维护 · 波长/质量/温度校准 · 分辨率/灵敏度验证 · 故障诊断
校准维护
30
综合案例分析
金属合金(SEM-EDS+ICP-OES+XRD) · 高分子(TGA-DSC+FTIR) · 水样重金属(ICP-MS+AAS) · 药物杂质(HPLC-MS)
案例实战