01
XRD基础原理
X射线的产生、晶体衍射的布拉格定律、XRD图谱的物理意义
布拉格方程衍射几何
02
XRD仪器构成
X射线源、测角仪、探测器、样品台的结构与功能
测角仪探测器
03
样品制备技术
粉末样品、块状样品、薄膜样品的制备方法与注意事项
粉末压片薄膜
04
数据采集策略
扫描模式选择、步长与速度设置、角度范围确定
连续扫描步进扫描
05
JCPDS/ICDD卡片库
PDF卡片的结构、检索方法、卡片索引的使用
PDF卡片索引
06
物相鉴定软件入门
Jade、HighScore Plus、DIFFRAC.EVA的界面与基本操作
JadeHighScore
07
图谱预处理
背底扣除、平滑处理、Kα2剥离、仪器展宽校正
背底平滑
08
峰位确定方法
寻峰算法、峰形拟合（Pseudo-Voigt、Pearson VII）、峰位精度评估
寻峰拟合
09
物相定性分析
三强线法、匹配度评估、多相体系的鉴定策略
三强线匹配
10
物相定量分析
内标法、外标法、RIR法、全谱拟合（Rietveld）定量
RIRRietveld
11
RIR法实战
参考强度比原理、标准样品制备、定量计算步骤
参考强度定量
12
Rietveld精修基础
晶体结构模型、精修参数、收敛判据
结构模型收敛
13
Rietveld精修实战
使用GSAS/FullProf进行全谱拟合的完整流程
GSASFullProf
14
晶粒尺寸与微观应变
Scherrer公式、Williamson-Hall法、Voigt函数法
ScherrerW-H
15
织构分析
极图测量、取向分布函数（ODF）、织构系数计算
极图ODF
16
残余应力测定
sin²ψ法、侧倾法与等倾法、应力常数确定
sin²ψ应力
17
非晶与部分结晶材料
非晶散射特征、结晶度计算、小角X射线散射（SAXS）简介
结晶度SAXS
18
薄膜XRD技术
掠入射衍射（GIXRD）、反射率测量、薄膜厚度与密度分析
GIXRD反射率
19
原位XRD技术
高温台、低温台、电化学原位池的使用与数据分析
原位变温
20
微量物相鉴定
同步辐射XRD的优势、微区衍射、二维探测器应用
同步辐射微区
21
常见物相鉴定误区
同质异象体、固溶体、超晶格峰的识别
同质异象固溶体
22
数据库高级检索
化学式检索、矿物名检索、物相组合检索
化学式矿物
23
峰形分析进阶
分峰拟合、Voigt函数分解、非对称峰处理
分峰Voigt
24
误差分析与数据质量
信噪比评估、重现性测试、系统误差校正
信噪比重现性
25
XRD与其他技术联用
XRD-SEM/EDS、XRD-TGA、XRD-Raman的数据关联分析
联用SEM
26
自动化脚本与批处理
使用Python/Jade脚本进行批量物相鉴定
Python批处理
27
报告撰写规范
图谱标注、数据表格、结果讨论的学术规范
学术规范图表
28
案例实战1：水泥熟料
C3S、C2S、C3A、C4AF的定性与定量分析
水泥熟料
29
案例实战2：黏土矿物
高岭石、蒙脱石、伊利石的鉴定与半定量分析
黏土半定量
30
案例实战3：锂电正极材料
NCM、LFP、LCO的相纯度与结构分析
NCMLFP