01
AFM基础原理回顾
轻敲模式的工作原理 · 与接触/非接触模式对比 · 核心优势
原理对比
02
探针的物理参数
共振频率 · 弹性常数(k) · 品质因子(Q) · 曲率半径 · 悬臂形状
参数探针
03
探针选择的核心逻辑
样品硬度与k值匹配 · 扫描速度与频率 · 分辨率与曲率半径权衡
选型逻辑
04
常见探针型号解析
PPP-NCHR · RTESPA-300 · OTESPA-R3 参数对比与场景
型号对比
05
探针安装与初始校准
机械安装 · 激光对焦 · 信号最大化 · PSPD校准
安装校准
06
驱动频率的确定
热噪声法测共振峰 · 手动扫频 · 相位信号观察
频率扫频
07
Setpoint (设定点) 调试
振幅衰减比例 · 力控制与样品保护 · 调整技巧
Setpoint力控制
08
反馈增益 (Gain) 调节
P-Gain / I-Gain · 振荡与失稳 · 自动优化与手动微调
增益反馈
09
扫描参数 (Scan Rate) 优化
扫描速度影响 · 像素与线频率匹配 · 减少拖尾
扫描速率
10
相位成像基础
相位信号物理意义 · 对比度来源 · 轻敲相位应用
相位成像
11
振幅-距离曲线 (Approach Curve)
曲线解读 · 硬/软样品特征 · 优化工作点
曲线力曲线
12
环境因素控制
温度漂移 · 湿度干扰 · 隔振台使用与检查
环境隔振
13
针尖污染与清洁
污染表现 · 等离子/紫外臭氧清洗 · 一次性探针
清洁污染
14
软样品 (聚合物/生物) 应用
低力成像 · 液下轻敲模式调试要点
软样品液下
15
硬样品 (半导体/陶瓷) 应用
高耐磨探针 · 减少磨损 · 激进参数设置
硬样品耐磨
16
多频轻敲技术 (MultiFrequency AFM)
双峰轻敲原理 · 形貌+力学同步调试
多频Bimodal
17
轻敲+电学联用 (TUNA/CAFM)
导电探针 · 电流噪声抑制 · 避免放电
电学CAFM
18
轻敲+磁力联用 (MFM)
抬升扫描(Lift Mode) · 磁探针磁化/退磁
MFM磁力
19
轻敲+热学联用 (SThM)
热探针校准 · 温度场成像策略
热学SThM
20
高速轻敲模式 (HS-AFM)
小悬臂探针 · 扫描管谐振抑制 · 视频级成像
高速HS-AFM
21
宽范围扫描探针选择
大扫描范围(>100μm) · 悬臂刚度 · 非线性漂移补偿
宽扫描大范围
22
超低k值探针 (<0.1 N/m)
细胞/凝胶成像 · 避免针尖粘附
超低k柔软
23
超高k值探针 (>40 N/m)
刚性样品高分辨 · 减少针尖滑移
超高k刚性
24
探针寿命管理
判断报废 · 延长寿命 · 存储防潮
寿命维护
25
图像伪影识别与消除
双针尖/磨损/污染伪影 · 图像处理与重扫
伪影图像
26
轻敲模式参数速查表
软/中/硬样品推荐参数 (k, 频率, Setpoint, Gain)
速查参数表
27
故障排除实战
无法起振 · 相位异常 · 条纹噪声 · 失锁诊断
故障诊断
28
自动化与脚本调试
Nanoscope Script · 自动找频 · 自动增益
脚本自动化
29
轻敲模式新趋势
光热激励 · 小悬臂阵列 · AI辅助优化
前沿趋势
30
综合实战案例
未知聚合物薄膜 · 形貌+相位+力学映射完整复盘
实战复盘