第01章
高分辨成像原理
相位衬度与振幅衬度 · Scherzer欠焦条件 · 弱相位物体近似
衬度Scherzer
第02章
仪器操作基础
电子枪与聚光镜系统 · 样品台与倾转 · CCD/CMOS参数设置
硬件倾转
第03章
晶格条纹像的获取
SAED与高分辨像关联 · 晶带轴对准 · 曝光时间与电子剂量
SAED剂量
第04章
傅里叶变换(FFT)基础
FFT物理意义 · 功率谱与衍射图样 · 频谱信息极限
FFT功率谱
第05章
像差与衬度传递函数(CTF)
CTF数学表达 · 欠焦量与Scherzer · CTF校正与模拟
CTF像差
第06章
数字图像处理入门
DigitalMicrograph基础 · 图像格式与数据类型 · 直方图调整
DM直方图
第07章
滤波与降噪
低通/高通/带通滤波 · 晶格条纹增强 · 维纳滤波与去卷积
滤波降噪
第08章
晶格条纹的几何测量
d-spacing测量 · 晶面夹角 · 应变几何相位分析(GPA)
GPAd间距
第09章
快速傅里叶变换(FFT)标定
标准样品标定 · 误差来源 · 标定精度提升
标定精度
第10章
Bragg滤波与反傅里叶变换
Bragg滤波原理 · 掩膜设计 · 重构像与条纹可视化
Bragg掩膜
第11章
晶格条纹像的模拟
多片层法(Multislice) · 参数设置 · 实验与模拟对比
Multislice模拟
第12章
缺陷与界面分析
刃型/螺型位错 · 晶界/相界 · 层错与孪晶识别
缺陷界面
第13章
应变分析(GPA)实战
GPA算法流程 · 参考区域选择 · 应变分量提取与解读
GPA应变
第14章
定量高分辨电子显微学
原子列位置提取 · 精度与误差 · 统计参数分析
定量原子列
第15章
像差校正技术
球差校正器(Cs-corrector) · 负球差成像(NCSI) · 信息极限拓展
Cs校正NCSI
第16章
低剂量成像技术
电子束敏感材料 · 低剂量模式 · 直接电子探测相机(DED)
低剂量DED
第17章
原位高分辨成像
加热/冷却样品杆 · 气体/液体环境 · 时间分辨成像
原位环境
第18章
数据处理软件实战(一)
DigitalMicrograph脚本 · 批量FFT与滤波 · 自定义测量
DM脚本批量
第19章
数据处理软件实战(二)
Python (numpy/scipy) · Py4DSTEM简介
PythonPy4DSTEM
第20章
四维扫描透射电子显微学(4D-STEM)
4D-STEM采集 · 虚拟衍射成像 · 中心对称性分析
4D-STEM虚拟衍射
第21章
叠层衍射成像(Ptychography)
Ptychography原理 · 与晶格条纹结合 · 高分辨相位重构
Ptychography相位
第22章
晶格条纹像的伪像识别
样品漂移畸变 · 非晶层与污染 · CCD饱和过曝光
伪像漂移
第23章
图像配准与序列处理
漂移校正算法 · 时间序列配准 · 平均与信噪比提升
配准序列
第24章
高级滤波技术
PCA降噪 · 非局部均值(NLM) · 深度学习降噪(DENet)
PCA深度学习
第25章
三维重构基础
电子断层扫描(ET) · 单轴倾转 · WBP与SIRT重构
ETSIRT
第26章
原子分辨率的电子断层扫描
离散断层扫描(DET) · 压缩感知 · 原子列三维定位
DET压缩感知
第27章
定量应变与极化分析
极化场原子尺度测量 · 铁电极化反转 · 应变与极化耦合
极化铁电
第28章
多尺度关联分析
SEM/TEM/STEM关联 · 晶格条纹与EDS叠加 · 结构成分对应
关联EDS
第29章
报告与论文撰写
高分辨像呈现规范 · 标尺与标注 · Supplementary Information
论文规范
第30章
综合案例实战
原始数据到科学结论 · 钙钛矿/半导体解析 · 常见问题与方案
实战案例