01
XRD基础
X射线的产生与性质 · 晶体学基础 · 布拉格方程推导与物理意义
晶面指数晶面间距
02
XRD仪器
衍射仪构造 · θ-2θ扫描 · 管压/管流/扫描速度/步长
测角仪探测器
03
样品制备
粉末研磨压片 · 块状表面处理 · 薄膜/微量样品技巧
背装法特殊样品
04
数据采集
开机校准 · 扫描参数设置 · 保存格式 .raw/.uxd/.xrdml
流程注意事项
05
Jade软件入门
安装界面 · 文件导入 · 图谱缩放/平滑/扣背底
浏览基本操作
06
图谱预处理
Savitzky-Golay平滑 · 手动/自动扣背底 · Kα₂剥离 · 寻峰
平滑寻峰
07
物相定性分析原理
PDF卡片库 · 三强线原则 · d值与I/I₀匹配算法
ICDDJCPDS
08
Jade物相检索
Search/Match详解 · 元素限定 · 单峰/多相检索策略
检索限定
09
单相物质鉴定
已知/未知样品检索流程 · FOM值 · d值偏差评价
匹配评价
10
多相混合物分析
多相检索策略 · 主相/次相区分 · 重叠峰归属
混合物归属
11
物相定量分析基础
绝热法(K值)原理 · RIR含义与获取 · 定量公式推导
K值法RIR
12
Jade定量分析
WPF全谱拟合定量 · RIR操作 · 结果验证
全谱拟合定量
13
晶粒尺寸与微观应变
Scherrer公式 · Williamson-Hall法 · Jade晶粒尺寸计算
ScherrerW-H
14
晶胞参数精修
标准物质内标法 · 最小二乘法 · Jade精修操作
内标精修
15
原位XRD
高温/低温台 · 原位反应监测 · 变温数据分析
原位变温
16
薄膜XRD
掠入射(GIXRD)模式 · 薄膜物相鉴定 · 厚度/密度估算
GIXRD薄膜
17
残余应力测试
sin²ψ法原理 · 侧倾/等倾法 · Jade应力计算
应力sin²ψ
18
织构与极图
极图采集 · 取向分布函数(ODF) · 织构定性分析
极图ODF
19
小角X射线散射(SAXS)
SAXS原理 · 纳米颗粒尺寸 · 孔隙率分析
SAXS纳米
20
X射线反射率(XRR)
薄膜厚度 · 密度 · 粗糙度XRR分析
XRR反射率
21
常见问题与对策
无匹配峰 · 峰位偏移 · 峰形异常 · 背景过高排查
故障解决
22
PDF卡片库管理
卡片检索下载 · 自定义卡片库 · 卡片信息解读
PDF管理
23
数据处理进阶
峰形拟合(Pseudo-Voigt, Pearson VII) · 分峰 · 结晶度计算
拟合结晶度
24
Rietveld精修入门
Rietveld原理 · GSAS/FullProf简介 · 精修策略与参数
Rietveld精修
25
Rietveld精修实战
结构模型建立 · 背景/峰形精修 · 原子坐标/占有率
实战参数
26
XRD与其它技术联用
XRD+SEM/EDS · XRD+TGA/DSC · XRD+Raman综合案例
联用多技术
27
数据库与在线资源
ICDD · COD · Crystallography Open Database · Materials Project
数据库在线
28
报告撰写
报告结构(实验/图谱/物相列表/讨论) · 数据可视化技巧
报告可视化
29
综合案例1：未知矿物
全流程分析 · 从采集到报告 · 实战演练
矿物全流程
30
综合案例2：多相催化剂
物相鉴定与定量分析实战 · 多相体系
催化剂定量