FTIR红外光谱样品制备与信号优化实战
📚 共计 30 章节
01
FTIR光谱基础
红外光谱原理 · 分子振动模式 · 官能团与特征峰
原理
振动
官能团
02
FTIR光谱仪结构
光源 · 干涉仪 · 样品室 · 检测器 · 数据处理系统
硬件
干涉仪
检测器
03
样品制备总论
样品状态分类 · 制备原则 · 常见问题概述
分类
原则
问题
04
KBr压片法（一）
KBr与样品比例 · 研磨技巧 · 压片压力与时间
压片
KBr
研磨
05
KBr压片法（二）
常见问题排查（散射、吸收过强、水峰干扰）
排查
散射
水峰
06
糊状法（Nujol Mull）
石蜡油选择 · 研磨分散技巧 · 制样与测量
糊状
Nujol
分散
07
薄膜法（一）：溶液浇铸法
溶剂选择 · 浓度控制 · 成膜均匀性
浇铸
溶剂
均匀性
08
薄膜法（二）：热压成膜法
温度控制 · 压力控制 · 厚度控制
热压
温度
厚度
09
液体样品池法
可拆卸液体池 · 固定光程池 · 微量液体池使用
液体池
光程
微量
10
气体样品池法
长光程气体池 · 温控气体池 · 吹扫与背景扣除
气体池
长光程
吹扫
11
ATR附件原理
全反射原理 · 穿透深度 · 晶体材料选择（ZnSe, Ge, Diamond）
ATR
全反射
晶体
12
ATR样品制备
固体、液体、粉末、凝胶的ATR制样技巧
制样
固体
凝胶
13
ATR与透射对比
优缺点分析 · 适用场景 · 数据校正
对比
校正
场景
14
漫反射法（DRIFTS）
原理 · 样品稀释 · KBr背景 · 镜面反射校正
DRIFTS
漫反射
稀释
15
镜面反射法
金属表面膜 · 厚样品反射 · K-K变换
镜面反射
K-K
金属膜
16
显微红外光谱
空间分辨率 · 样品切片 · ATR成像 · Mapping技术
显微
成像
Mapping
17
信号优化基础
信噪比概念 · 影响信噪比的因素
信噪比
优化
因素
18
扫描次数与分辨率
扫描次数对信噪比的影响 · 分辨率设置原则
扫描
分辨率
信噪比
19
光阑与增益
光阑大小调节 · 增益设置 · 避免检测器饱和
光阑
增益
饱和
20
吹扫与干燥
CO2与水汽干扰 · 吹扫系统维护 · 干燥剂更换
吹扫
干燥
CO2
21
背景采集策略
背景采集频率 · 背景材料选择 · 单光束背景处理
背景
单光束
策略
22
基线校正
多项式拟合 · 自动基线校正 · 多点基线校正
基线
拟合
校正
23
平滑处理
Savitzky-Golay平滑 · 平滑点数选择 · 过平滑风险
平滑
S-G
过平滑
24
去卷积与二阶导数
峰分离原理 · 去卷积参数 · 导数光谱应用
去卷积
二阶导
峰分离
25
ATR校正
穿透深度校正 · 折射率校正 · 标准ATR校正算法
ATR校正
折射率
算法
26
定量分析基础
朗伯-比尔定律 · 标准曲线法 · 内标法
定量
比尔定律
内标
27
混合物分析
谱图差减 · 多元校正（PLS） · 主成分分析（PCA）
差减
PLS
PCA
28
常见伪峰与干扰
干涉条纹 · 水汽峰 · CO2峰 · 样品散射
伪峰
水汽
散射
29
仪器维护与校准
激光校准 · 湿度控制 · 检测器维护 · 光路准直
维护
校准
光路
30
综合案例实战
未知聚合物薄膜的全流程分析（制样、采集、优化、解析）
实战
聚合物
全流程