01
IGBT基础与双脉冲测试概述
IGBT工作原理、开关特性、双脉冲测试的目的与意义。
原理开关特性
02
双脉冲测试电路拓扑
半桥结构、寄生参数分析、测试回路搭建要点。
半桥寄生参数
03
测试设备与仪器
高压电源、信号发生器、示波器、电流/电压探头选型。
仪器探头
04
双脉冲测试原理
第一个脉冲、关断区间、第二个脉冲的物理过程与波形解读。
波形物理过程
05
栅极驱动电路设计
驱动电阻计算、驱动电压选择、米勒平台效应与抑制。
驱动米勒平台
06
测试参数提取
开通/关断时间、开通/关断损耗的计算方法。
损耗时间
07
寄生电感的影响
功率回路电感对开关波形的影响、叠层母排设计。
电感母排
08
温度对IGBT动态特性的影响
结温与开关参数的关系、热阻测量。
温度热阻
09
关键波形分析
Vge、Vce、Ic波形特征与异常判断。
波形故障
10
重复性与误差分析
测量不确定度、探头校准、去嵌入技术。
校准误差
11
RBSOA与SCSOA
反向偏置安全工作区、短路安全工作区测试方法。
SOA短路
12
过冲与振铃
电压过冲机理、RC缓冲电路设计。
缓冲振铃
13
IGBT并联均流测试
并联支路电流不平衡原因、栅极电阻微调技术。
并联均流
14
SiC MOSFET与IGBT对比
开关速度、损耗特性、驱动差异。
SiC对比
15
高压IGBT模块测试注意事项
爬电距离、绝缘测试、安全操作规范。
高压安全
16
双脉冲测试自动化系统
LabVIEW/Python控制、数据自动采集与处理。
自动化LabVIEW
17
测试夹具与DUT适配
模块封装适配、低电感夹具设计、接触电阻控制。
夹具低电感
18
关断拖尾电流分析
少子寿命、缓冲层设计对拖尾的影响。
拖尾少子
19
栅极振荡与误导通
栅极回路寄生参数、有源米勒钳位技术。
振荡米勒钳位
20
电磁干扰与抑制
共模/差模干扰、屏蔽与滤波。
EMI滤波
21
模块内部寄生参数提取
模块内部电感、电容的测量方法。
寄生参数测量
22
双脉冲测试标准解读
IEC 60747-9、JEDEC、AEC-Q101相关要求。
标准IEC
23
数据处理与报告生成
波形平滑、数值拟合、自动化报告模板。
数据处理报告
24
雪崩与短路能力
雪崩能量测试、短路耐受时间、失效模式。
雪崩短路
25
死区时间影响
死区对开关损耗、电压应力的影响。
死区损耗
26
驱动电源设计
隔离电源、负压关断、电源纹波抑制。
电源隔离
27
电流检测技术
罗氏线圈、分流器、电流互感器对比。
检测罗氏线圈
28
老化与寿命测试
功率循环、热循环对动态参数的影响。
老化功率循环
29
仿真与实验对比
Saber/SPICE建模、仿真与实测偏差分析。
仿真SPICE
30
综合案例：选型与逆变器优化
基于双脉冲测试的IGBT选型与逆变器设计优化。
案例逆变器