⚡ MCU HIL 硬件在环验证
30章 · 完整目录
🎓 友好色系
01
HIL概述
什么是HIL · HIL在电机控制器中的角色 · HIL vs MIL/SIL/PIL
02
HIL系统架构
实时处理器 · I/O接口 · 故障注入单元 · 负载仿真
03
电机模型基础
PMSM数学模型 · Clark/Park变换 · SVPWM原理
04
HIL测试环境搭建
硬件选型 · 线束设计 · 信号调理 · 安全防护
05
实时操作系统
RTOS在HIL中的应用 · 任务调度 · 中断管理 · 时钟同步
06
IO配置与校准
ADC/DAC精度 · PWM捕获 · 数字IO电气特性匹配
07
故障注入技术
短路/开路/过压/欠压 · 信号延迟 · 位翻转
08
传感器仿真
旋变 · 霍尔 · 电流传感器 · 温度传感器建模与接口
09
执行器仿真
IGBT/MOSFET驱动 · 继电器 · 电磁阀负载特性模拟
10
通信仿真
CAN/CANFD · LIN · SPI · I2C · Ethernet的HIL实现
11
测试用例设计
等价类划分 · 边界值分析 · 状态图 · 场景法
12
自动化测试框架
Python + pyTest · HIL API封装 · 测试报告生成
13
标定与测量
XCP/CCP协议 · A2L文件解析 · 在线标定 · 测量数据记录
14
电源管理测试
休眠唤醒 · 电压跌落 · 反接保护 · 过流保护验证
15
启动与停机时序
预充电 · 接触器控制 · 主动放电 · 安全状态机
16
扭矩控制测试
扭矩精度 · 响应时间 · 过调制 · 弱磁控制验证
17
转速控制测试
转速闭环 · PI参数整定 · 转速超调 · 稳速精度
18
位置控制测试
定位精度 · 跟随误差 · 抖动抑制 · 抱闸控制
19
电流环测试
电流采样同步 · d/q轴电流解耦 · 电流限幅 · 死区补偿
20
保护功能测试
过流/过压/过温 · 缺相/堵转/短路保护
21
故障诊断测试
UDS诊断 · DTC触发 · 故障快照 · 降级模式
22
电磁兼容性预测试
传导发射 · 辐射发射 · 抗扰度 · ESD测试
23
热管理测试
损耗模型 · 热模型 · 降额曲线 · 风扇/水泵控制
24
软件更新测试
OTA · Bootloader · 回滚机制 · 校验和验证
25
网络管理测试
CAN NM · Ethernet SOME/IP · 网络唤醒/睡眠
26
功能安全测试
ISO 26262 ASIL等级 · 安全机制 · 故障覆盖率
27
性能基准测试
CPU负载 · 内存占用 · 任务执行时间 · 抖动分析
28
回归测试
版本对比 · 自动化回归 · 差异分析 · 覆盖率统计
29
HIL与实车对比
相关性分析 · 误差溯源 · 模型校准 · 置信度评估
30
HIL测试报告
测试计划 · 测试结果 · 问题追踪 · 评审要点