⚡ PD供电协议认证测试与整改方案
30章 · 从入门到实战
📚
USB-IF 认证体系
1
01
PD协议概述
USB PD发展历史 · PD 3.0 vs 3.1 · 快充地位
→
2
02
认证测试标准解读
USB-IF认证体系 · 测试项目清单 · 流程概览
→
3
03
测试设备与环境搭建
PD测试仪 · 电子负载 · 协议分析仪 · 示波器
→
4
04
Source端电气特性测试
VBUS电压/电流精度 · 纹波噪声 · 上升/下降时间
→
5
05
Sink端电气特性测试
输入电容 · 浪涌电流 · 电压跌落响应
→
6
06
物理层一致性测试
Chirp信号 · BMC编码 · 阻抗匹配
→
7
07
协议层基础测试
GoodCRC · 消息重传 · 超时处理
→
8
08
Source Capability测试
能力声明 · PDO格式 · APDO测试
→
9
09
Sink Capability测试
RDO请求 · 能力声明 · 电源角色切换
→
10
10
显式协商测试
协商流程 · 电压/电流阶跃 · 失败处理
→
11
11
隐式协商测试
5V/3A默认档位 · 触发条件 · 互操作
→
12
12
PR_Swap测试
DRP切换流程 · 角色交换时序 · 数据角色关联
→
13
13
DR_Swap测试
DFP/DNP切换 · 数据角色交换 · USB 2.0/3.0互操作
→
14
14
VCONN测试
VCONN供电 · eMarker检测 · 短路保护
→
15
15
eMarker测试
基础功能 · EEPROM读写 · 认证状态
→
16
16
PD协议合规性测试
状态机遍历 · 非法消息 · 异常恢复
→
17
17
EMC预测试与整改
传导/辐射发射 · 共模扼流圈 · 布局优化
→
18
18
ESD防护与整改
Type-C ESD设计 · TVS管选型 · 系统级测试
→
19
19
VBUS浪涌与过压保护
浪涌来源 · OVP电路 · eFuse选型
→
20
20
CC引脚保护与设计
过压/过流保护 · ESD设计 · 电平转换
→
21
21
PD控制器选型与设计
STUSB · TI TPS · Cypress · 外围电路
→
22
22
MOSFET与功率路径设计
VBUS开关 · 反向电流保护 · 热设计
→
23
23
PCB布局与布线要点
电源布局 · 信号完整性 · CC/D+ D-差分对
→
24
24
固件开发与调试
协议栈移植 · 状态机编程 · 调试日志
→
25
25
常见认证失败案例分析
Capability不匹配 · PR_Swap失败 · eMarker通信
→
26
26
整改方案实战
测试报告→整改实施 · 元器件更换 · PCB改版
→
27
27
预认证测试流程
内部预测试 · 用例管理 · 回归策略
→
28
28
认证实验室送测流程
TUV/UL/ITS · 费用周期 · 送测文档
→
29
29
PD协议未来演进
USB PD 3.2 · EPR技术 · 无线充电融合
→
30
30
课程总结与项目实战
综合案例：设计65W PD充电器 · 通过USB-IF认证
→