📚 存储系统设计与性能优化
瑞芯微实战
🎯 30章 · 从架构到调优 · 卡片目录
⚡ 全链路
30讲
01
存储系统概述
存储架构全景
Cache/RAM/Flash
带宽/延迟/IOPS
02
DDR控制器原理
DDR协议基础
瑞芯微控制器
tRCD/tCL/tRP
03
DDR性能调优
频率/电压
ODT配置
DQS门控训练
眼图测试
04
NAND Flash基础
SLC/MLC/TLC/QLC
Page/Block/Plane
读写擦除
05
NAND Flash接口协议
ONFI vs Toggle
NFC控制器
时序模式切换
06
ECC纠错算法
BCH码
LDPC码
硬件ECC引擎
纠错能力权衡
07
FTL闪存转换层
逻辑物理映射
垃圾回收
磨损均衡
坏块管理
08
存储性能优化
读写缓存
预取写合并
DMA优化
多通道并行
09
eMMC协议详解
eMMC 5.1
HS400模式
Boot/User/RPMB
可靠写/安全擦除
10
eMMC性能调优
HS400时序
命令队列优化
Cache Flush
分区对齐
11
UFS协议详解
UFS 2.1/3.1
M-PHY/UniPro
Command Queue
Task Mgmt
12
UFS性能调优
Gear速率
HS-Gear切换
WriteBooster/HPB
UFS RPMB
13
SPI NOR Flash
SPI协议
QSPI/Octal SPI
XIP技术
分区布局
14
SPI NAND Flash
SPI NAND协议
内置ECC/OTP
控制器配置
15
存储启动流程
BootROM加载
DDR初始化
设备枚举
SPL/TPL
16
分区表设计
GPT vs MBR
Parameter分区
对齐与性能
17
文件系统选型
FAT32/exFAT
EXT4
F2FS
UBIFS对比
18
UBIFS深度优化
UBI卷管理
磨损均衡
LEB/PEB映射
GC调优
19
F2FS深度优化
NAT/SIT/SSA
多头日志
GC策略
碎片整理
20
存储功耗管理
DDR自刷新/深度睡眠
NAND待机
UFS休眠
DVFS
21
存储可靠性设计
ECC/CRC
写放大控制
掉电保护
数据巡检
22
存储性能测试
FIO工具
AndroBench
dd命令
自定义脚本
23
存储问题调试
内核驱动调试
Tracepoint/Ftrace
RAM Oops
逻辑分析仪
24
DDR问题实战
不稳定案例
时序违规
温度漂移补偿
阻抗匹配
25
NAND问题实战
坏块增长
读/写干扰
数据保持
ECC错误率
26
eMMC问题实战
寿命耗尽
命令超时
CRC错误
RPMB失败
27
UFS问题实战
链路训练失败
Gear降速
WriteBooster异常
HPB命中率低
28
文件系统问题实战
文件系统损坏
空间泄漏
碎片化
挂载失败
29
存储安全
TEE/OTP
AES/SM4
安全擦除
防回滚
30
未来趋势
CXL存储
ZNS SSD
计算存储
瑞芯微下一代架构