车规MCU芯片级故障诊断技术实战 · 课程目录

01 车规MCU概述

车规级MCU定义
车规vs消费/工业
AEC-Q100标准
ISO 26262简介

02 芯片级故障诊断基础

03 扫描链技术

扫描链原理
扫描触发器
扫描链插入
ATPG基础

04 边界扫描 JTAG

IEEE 1149.1
TAP控制器
指令寄存器
边界扫描寄存器
BSDL

05 内建自测试 BIST

存储器BIST
逻辑BIST
测试向量生成
响应分析

06 模拟与混合信号测试

ADC/DAC测试
PLL测试
比较器测试
温度传感器
电压监测

07 故障注入技术

软件故障注入
硬件故障注入
激光故障注入
电磁故障注入

08 在线监控与诊断

电压监控BOD/POR
时钟监控
温度监控
看门狗WDT

09 ECC与奇偶校验

SEC-DED
存储器ECC
总线奇偶校验
寄存器奇偶校验

10 冗余与锁步技术

双核锁步DCLS
比较器逻辑
冗余执行单元
TMR/DMR

11 时钟与复位诊断

时钟丢失检测
频率监测
抖动测量
复位源诊断
复位序列验证

12 电源管理诊断

电源域划分
电压跌落检测
上电复位时序
电源毛刺检测
低功耗诊断

13 通信接口诊断

CAN/CAN-FD
LIN诊断
FlexRay
以太网
SPI/I2C

14 传感器接口诊断

模拟输入诊断
数字输入诊断
短路/断路检测
范围检查

15 执行器接口诊断

PWM输出诊断
H桥诊断
MOSFET诊断
电流检测
负载开路/短路

16 存储器诊断

Flash ECC
Flash磨损均衡
SRAM March算法
NVRAM诊断

17 CPU内核诊断

寄存器测试
ALU测试
流水线测试
中断控制器
MPU/MMU

18 DMA与外设诊断

DMA完整性
外设寄存器回读
状态机检查
外设中断诊断

19 时序与延迟诊断

时序约束检查
路径延迟测试
建立/保持时间
时钟歪斜诊断

20 温度与老化诊断

结温测量
热阻监测
电迁移监测
NBTI/PBTI
老化预测

21 诊断覆盖率计算

Stuck-at覆盖率
Transition覆盖率
桥接故障覆盖率
功能诊断覆盖率

22 故障树分析 FTA

FTA基本概念
顶事件定义
逻辑门AND/OR
最小割集
定量分析

23 FMEA 失效模式分析

DFMEA流程
严重度/发生度/探测度
RPN计算
诊断措施

24 功能安全诊断技术

ASIL等级分解
安全机制设计
诊断间隔
故障响应时间
安全状态

25 诊断软件架构

AUTOSAR诊断栈
DCM
DEM
FIM

26 UDS诊断协议

ISO 14229
诊断会话控制
DTC读取/清除
数据标识符
例程控制

27 Bootloader与安全诊断

安全启动
固件签名验证
回滚保护
安全调试接口
JTAG锁定

28 诊断测试开发流程

29 自动化测试平台

ATE测试
ATE向量生成
ATE调试
ATE良率分析
ATE vs SLT

30 车规MCU诊断发展趋势

AI辅助诊断
预测性维护
云端诊断
OTA诊断更新
Chiplet诊断挑战