AEC-Q100标准简介
车规/工规/商规区别
可靠性设计重要性
12V/24V电池系统
抛负载Load Dump
冷启动与启动脉冲
纹波与噪声要求
Buck/Boot/Buck-Boost
SEPIC/Cuk拓扑
适用场景与可靠性对比
Rds(on)与导通损耗
开关损耗计算
雪崩耐量&SOA
栅极电荷特性
饱和/温升电流
磁芯材料(铁氧体/铁硅铝/非晶)
EMI屏蔽与漏磁
自谐振频率
陶瓷电容DC偏压
铝电解寿命模型
钽电容浪涌风险
ESR与ESL影响
Type II/III补偿网络
穿越频率&相位裕度
负载瞬态响应
小信号建模方法
频率与效率/尺寸权衡
AM频段干扰规避
频率抖动(Spread Spectrum)
结温与壳温计算
热阻网络模型
散热器选型与安装
PCB铜箔散热能力
功率回路最小化
敏感信号远离噪声源
多层板叠层策略
散热过孔设计
传导/辐射发射标准
输入滤波器设计
共模/差模扼流圈
屏蔽设计
UVLO/OVLO
输出过流OCP
短路保护SCP
过温保护OTP
软启动时间设定
输出跟踪Tracking
上电时序Power Sequencing
故障恢复
输出电压精度
远程采样Remote Sense
Kelvin连接
分压电阻温漂影响
高侧驱动自举电路
死区时间控制
米勒平台与交叉导通
驱动电阻优化
内部LDO选择
自举二极管选型
VCC电容设计
低功耗待机模式
N+1冗余架构
ORing二极管/理想二极管
负载均衡
故障隔离
MTBF计算(MIL/SN29500)
FMEA分析步骤
失效率分配
降额设计
高温工作寿命HTOL
温度循环TC
湿度偏置HAST
振动与冲击
无铅焊接工艺
焊点疲劳寿命
底部填充Underfill
X-ray检测
AEC-Q100分级(0/1/2/3)
PPAP文件包
IMDS/CAMDS申报
第三方实验室选择
ISO 26262 ASIL等级
安全目标Safety Goal
诊断覆盖率
失效模式分类
短路/开路注入
参数漂移模拟
极限温度测试
ESD与浪涌测试
MCU/DSP控制方案
数字补偿器设计
ADC采样与分辨率
固件可靠性
宽禁带器件优势
驱动挑战
高频寄生参数
可靠性现状
主动EMI滤波
频率抖动
软开关ZVS/ZCS
屏蔽与接地
12V转3.3V/10A Buck
48V转12V/500W DC/DC
常见故障排查
48V电气架构
无线充电
智能配电
课程总结与资源推荐