- 测试概述
- 单元测试概念
- Ceedling/Unity/CMock
- VS Code+GCC+Makefile
- PWM原理
- DRV8833控制
- 占空比与速度
- PWM单元测试
- 霍尔工作原理
- 脉冲计数/位置换算
- ISR测试方法
- 模拟霍尔信号
- 上限/下限位逻辑
- 软/硬件限位配合
- 边界条件用例
- 异常恢复测试
- 堵转电流检测
- ADC采样/阈值
- 堵转状态机
- 保护单元测试
- PID算法简介
- 位置环/速度环
- 参数整定
- Mock被控对象测试
- 绝对位置设定/存储
- 位置误差计算
- 梯形/S形曲线
- 位置控制单元测试
- RF/IR协议(NEC)
- 解码状态机
- 指令解析/校验
- 解码模块单元测试
- 串口AT指令解析
- MQTT/CoAP Mock
- 超时/重传机制
- 通信模块单元测试
- FreeRTOS任务管理
- 队列/信号量
- 调度行为测试
- Mock RTOS API
- 窗帘状态机设计
- 状态转换表
- 事件驱动测试
- 覆盖度分析
- EEPROM/Flash驱动
- 参数序列化
- 校验和/磨损均衡
- NVM单元测试
- IWDG/WWDG
- 喂狗策略
- 系统健康检查
- 看门狗复位测试
- 睡眠/停止/待机
- 外部中断唤醒
- 定时器唤醒
- 低功耗切换测试
- 错误码定义
- 错误记录/上报
- 日志等级/输出
- 错误处理单元测试
- Bootloader设计
- 固件校验CRC/SHA
- 升级失败回滚
- OTA流程单元测试
- 防夹手电流/力矩
- 安全反转逻辑
- 安全功能用例
- 故障注入测试
- 多电机协调算法
- 同步误差补偿
- 总线通信同步
- 多电机同步单元测试
- 场景保存/调用
- 定时任务
- 光感/雨感联动
- 配置管理测试
- HAL设计原则
- GPIO/ADC/Timer抽象
- Mock HAL驱动
- HAL层单元测试
- 中断嵌套/优先级分组
- 临界区保护
- 中断延迟测量
- 中断单元测试
- 代码执行时间(DWT)
- CPU负载率
- 性能基准测试
- 时间关键路径测试
- 静态 vs 动态分配
- 堆栈溢出检测
- 内存泄漏检测
- 内存使用率单元测试
- MISRA-C规范
- PC-Lint/Cppcheck
- 圈复杂度计算
- 静态分析报告
- 语句/分支/MC/DC
- gcov/lcov工具
- 覆盖率目标设定
- 覆盖率报告