第1章
测试基础与行业认知
半导体测试流程概述、ATE测试原理、良率与CP/FT测试概念。
基础概念
第2章
测试数据采集系统搭建
测试机台数据接口、STDF/ATDF文件格式解析、数据采集硬件选型。
系统硬件
第3章
Python环境与数据处理库
Anaconda安装、Pandas入门、NumPy基础、Jupyter Notebook使用。
Python环境
第4章
STDF文件解析实战
使用pySTDF库读取STDF文件、提取测试项与Bin信息、数据清洗与格式化。
STDF解析
第5章
测试数据可视化基础
Matplotlib与Plotly入门、绘制良率趋势图、参数分布直方图。
可视化图表
第6章
良率分析实战
良率计算与汇总、低良率批次定位、Bin Pareto图绘制。
良率Pareto
第7章
参数统计分析
均值/中位数/标准差计算、正态性检验、CPK/PPK计算与解读。
统计CPK
第8章
测试数据相关性分析
Pearson/Spearman相关系数、参数间散点图矩阵、相关性热力图。
相关性热力图
第9章
测试时间分析
测试时间数据提取、各测试项耗时排序、并行测试效率评估。
效率时间
第10章
测试数据异常检测
基于IQR的离群点检测、Z-score方法、箱线图可视化。
异常箱线图
第11章
多站点数据分析
站点间良率对比、站点偏差分析、站点均衡性评估。
多站点均衡
第12章
测试数据自动化报告生成
使用Python生成PDF报告、ReportLab库应用、模板化报告设计。
报告PDF
第13章
数据库存储与查询
SQLite/MySQL数据库搭建、测试数据入库、SQL查询与聚合。
数据库SQL
第14章
实时数据采集与监控
Socket通信基础、测试机台实时数据流接收、WebSocket推送。
实时监控
第15章
Web仪表盘开发
Flask/Dash框架入门、实时良率仪表盘、参数监控面板。
仪表盘Web
第16章
测试数据压缩与归档
数据压缩算法对比、HDF5文件格式、大规模数据存储策略。
压缩HDF5
第17章
测试程序版本管理
Git基础、测试程序版本对比、数据回溯与版本关联。
Git版本
第18章
测试数据质量评估
数据完整性检查、缺失值处理、重复数据去重。
质量清洗
第19章
机器学习在测试数据中的应用
聚类分析识别异常批次、回归预测良率趋势、分类模型识别失效模式。
ML预测
第20章
测试数据安全与权限管理
数据加密、访问控制、审计日志。
安全权限
第21章
多批次数据对比分析
批次间良率对比、参数漂移检测、工艺窗口监控。
对比漂移
第22章
测试数据与良率提升
基于数据的测试优化、Guard Band分析、测试限调整策略。
良率提升Guard Band
第23章
测试数据报告自动化
邮件自动发送报告、定时任务调度、报告分发。
自动化邮件
第24章
测试数据可视化进阶
交互式3D散点图、动态时间序列图、地理信息分布图。
3D动态
第25章
测试数据与供应链协同
数据共享接口、供应商数据整合、统一数据视图。
供应链协同
第26章
测试数据治理与标准化
数据字典建立、命名规范、元数据管理。
治理标准
第27章
大规模测试数据并行处理
Dask/Spark入门、分布式数据处理、性能优化。
并行Spark
第28章
测试数据与良率模型建立
基于物理的良率模型、统计良率模型、模型验证。
模型良率
第29章
测试数据实战案例一
某芯片量产初期良率爬坡分析。
案例爬坡
第30章
测试数据实战案例二
某芯片量产后期参数漂移与失效分析。
案例漂移