第1章
BIST概述
什么是BIST · 起源与发展 · SoC重要性
概念历史
第2章
BIST基本原理
测试模式生成 · 响应分析 · 控制器架构
核心架构
第3章
测试模式生成技术
LFSR原理 · 伪随机模式 · 加权随机模式
LFSR算法
第4章
响应分析技术
MISR原理 · 签名分析 · 故障覆盖评估
MISR签名
第5章
BIST控制器架构设计
状态机设计 · 控制信号 · 时钟域处理
FSM时钟
第6章
BIST接口与协议
JTAG接口 · IEEE 1149.1 · BIST指令集
JTAG标准
第7章
存储器BIST (MBIST)
MBIST架构 · March算法 · 存储器故障模型
MBISTMarch
第8章
逻辑BIST (LBIST)
LBIST架构 · 扫描链集成 · 测试点插入
LBIST扫描
第9章
BIST插入流程
RTL阶段 · 综合后 · 物理设计阶段
流程DFT
第10章
BIST仿真验证
功能仿真 · 时序仿真 · 故障仿真
仿真验证
第11章
BIST测试调度
并发测试 · 串行测试 · 功耗感知调度
调度功耗
第12章
BIST诊断技术
故障定位 · 诊断分辨率 · 诊断流程
诊断定位
第13章
BIST与ATPG对比
测试质量 · 测试时间 · 硬件开销
对比ATPG
第14章
BIST可测性设计
可观测性 · 可控制性 · 测试点插入
DFT可测性
第15章
BIST功耗分析
测试功耗模型 · 低功耗BIST · 门控时钟
低功耗门控
第16章
BIST安全考虑
测试模式安全 · 密钥保护 · 防篡改
安全防篡改
第17章
汽车电子BIST
ISO 26262 · 在线测试 · 安全机制
汽车功能安全
第18章
航空航天BIST
辐射环境 · 可靠性 · 冗余设计
航天冗余
第19章
IoT设备BIST
低功耗约束 · 小面积 · 远程测试
IoT低功耗
第20章
AI芯片BIST
神经网络测试 · 加速器BIST · 容错
AI容错
第21章
BIST自动化工具
商业工具 · 开源工具 · 脚本化流程
工具自动化
第22章
测试覆盖率分析
覆盖率模型 · 提升技术 · 覆盖率报告
覆盖率分析
第23章
硬件开销优化
面积优化 · 时序优化 · 功耗优化
优化面积
第24章
测试时间优化
并行测试 · 测试压缩 · 测试调度
时间压缩
第25章
BIST与边界扫描
边界扫描原理 · BSDL · 互连测试
边界扫描BSDL
第26章
3D IC中的BIST
TSV测试 · 堆叠芯片 · 热管理
3D ICTSV
第27章
FPGA中的BIST
动态部分重配置 · 嵌入式BIST · 远程更新
FPGA重配置
第28章
BIST发展趋势
机器学习辅助 · 自适应测试 · 片上健康监测
趋势ML
第29章
BIST项目实战
需求分析 · 架构设计 · RTL实现 · 验证调试
实战项目
第30章
BIST未来展望
新兴测试技术 · 标准化 · 产业前景
展望前沿