01
链路基础：高速串行链路架构
TX/RX/PLL/CDR、SerDes工作原理、眼图与浴盆曲线基础概念
SerDes眼图
02
链路基础：性能指标与协议标准
BER、抖动、眼高眼宽、信噪比；PCIe、SATA、GTH/GTY对比
BERPCIe
03
链路基础：FPGA高速收发器内部结构
PMA层与PCS层详解、时钟架构与参考时钟要求
PMA/PCS时钟
04
链路基础：PCB设计对高速链路的影响
阻抗控制、过孔残桩、串扰、损耗、层叠设计与材料选择
阻抗串扰
05
链路基础：高速链路仿真基础
IBIS-AMI模型、通道仿真、S参数分析、常用仿真工具介绍
IBIS-AMIS参数
06
故障现象：链路无法建立 & 眼图闭合
Link Training失败、眼图完全闭合、误码率极高
Link Training误码率
07
故障现象：间歇性断开 & 漂移
间歇性断开、误码率随温度/电压漂移、特定码型下出错
漂移码型
08
故障现象：插拔失效 & 批次不一致
单板工作正常但插拔后失效、不同批次板卡表现不一致
插拔批次
09
故障现象：多通道失败 & 串扰
多通道链路中部分通道失败、通道间串扰导致的性能下降
多通道串扰
10
故障现象：时钟相关故障
PLL失锁、时钟抖动过大、参考时钟频率偏差
PLL抖动
11
排查工具：高速示波器 & 误码仪
高速示波器与实时眼图测量、误码仪（BERT）使用方法
示波器BERT
12
排查工具：FPGA内部调试工具
IBERT、Serial IO Analyzer、ChipScope/ILA
IBERTILA
13
排查工具：TDR & VNA
时域反射计（TDR）测量PCB阻抗、网络分析仪（VNA）测量S参数
TDRVNA
14
排查工具：协议分析仪 & LTSSM
协议分析仪与链路训练状态跟踪（LTSSM状态机分析）
LTSSM协议
15
排查工具：应力 & 老化测试
温度/电压应力测试、老化测试与加速寿命试验方法
应力老化
16
排查方法：系统性排查流程
从现象到根因的5步法、故障树分析（FTA）构建
FTA5步法
17
排查方法：眼图分析实战
如何从眼图判断问题类型：ISI、串扰、时钟问题
眼图ISI
18
排查方法：抖动分离与分解
RJ、DJ、DDJ、PJ的测量与识别
抖动RJ/DJ
19
排查方法：浴盆曲线 & 链路裕量
误码率浴盆曲线分析与链路裕量评估
浴盆曲线裕量
20
排查方法：S参数 & 频域定位
回损/插损分析、谐振点、阻抗不连续
S参数谐振
21
排查方法：IBERT扫描 & 2D眼图
BERT Scan与二维眼图扫描（2D Eye Scan）实战
IBERT2D扫描
22
排查方法：链路训练 & 协议层定位
LTSSM状态卡死、TS序列分析
LTSSMTS序列
23
排查方法：电源完整性影响
PDN阻抗、电源纹波噪声测量
PDN纹波
24
排查方法：跨时钟域问题
CDR失锁、FIFO溢出/空、时钟域交叉时序
CDRFIFO
25
修复方案：PCB设计修复
阻抗调整、过孔背钻、AC耦合电容优化、走线长度匹配
背钻AC耦合
26
修复方案：FPGA内部参数调整
TX预加重/去加重、RX均衡器CTLE/DFE、摆幅与极性调整
CTLEDFE
27
修复方案：时钟方案优化
参考时钟抖动滤除、PLL带宽调整、时钟分配网络改进
PLL带宽时钟分配
28
修复方案：电源方案优化
PDN目标阻抗设计、去耦电容布局、电源纹波抑制
PDN去耦
29
修复方案：固件/软件修复
链路训练参数调整、协议层重试机制、自适应均衡算法
固件自适应均衡
30
综合案例：从故障报告到量产修复
全流程实战：眼图、S参数、IBERT数据综合分析
综合案例量产