4、电热耦合模型:焦耳热模型、热生成率计算、电热耦合求解器设置
好,咱们进入第四章。这一章讲的是电热耦合模型,说白了就是搞清楚器件里的热是怎么来的,以及怎么在仿真里把电和热这俩物理过程耦合起来算。
我个人觉得,这是SOI器件仿真里最容易被忽视、但又最致命的一环。为什么?因为SOI的埋氧层导热性极差,热量散不出去,自热效应就特别明显。你电学仿真做得再漂亮,不考虑热,结果可能就是错的。
4.1 焦耳热模型:热从哪来?
先问个问题:器件里的热是怎么产生的?
答案很简单——焦耳热。电流流过电阻,就会发热。这个道理初中物理就学过,但在半导体器件里,我们需要把它精确地模型化。
焦耳热模型的核心公式是:
H = J · E
其中H是热生成率(单位:W/cm³),J是电流密度,E是电场强度。说白了,就是电流密度和电场的点积。
嗯,这里要注意:这个公式是瞬时的、局部的。也就是说,每个点上的发热功率,等于该点的电流密度乘以该点的电场强度。
我在项目中遇到过一个问题:有同事直接用I²R来估算整个器件的发热,结果发现仿真出来的温度分布完全不对。为什么?因为I²R算的是总功率,但热生成是空间分布的。沟道中间和边缘的发热密度差很多,必须用J·E来算。
关键点:焦耳热模型是电热耦合的桥梁。没有它,电学和热学就是两张皮。
4.2 热生成率计算:细节决定成败
热生成率的计算,在TCAD里其实是个挺讲究的事。我习惯把它分成两部分来看:
- 电子和空穴的焦耳热:分别计算电子电流和空穴电流产生的热
- 复合热:载流子复合时释放的能量
在Sentaurus TCAD里,热生成率的计算通常用这个模型:
H = (J_n · E_n) + (J_p · E_p) + (R_net · Eg)
其中:
J_n、J_p:电子和空穴电流密度E_n、E_p:电子和空穴的准费米势梯度(有效电场)R_net:净复合率Eg:禁带宽度
你可能会问:为什么要分电子和空穴?
因为电子和空穴的迁移率不同,它们对发热的贡献也不一样。在NMOS里,电子是主要载流子,发热主要集中在沟道靠近漏端的位置。PMOS则是空穴主导,发热分布会有些差异。
我的经验:在SOI器件中,沟道漏端附近的热生成率最高,往往是普通区域的5-10倍。这个地方最容易出现热失效,仿真时要特别关注。
我曾经调试过一个SOI LDMOS的仿真,发现温度总是偏低。查了半天,原来是热生成率模型里默认忽略了复合热项。对于高压器件,漏端附近的碰撞电离很强,复合热不可忽略。加上之后,温度分布就合理了。
4.3 电热耦合求解器设置
好,模型有了,接下来就是怎么算。电热耦合求解,说白了就是同时解电学方程和热学方程。
在Sentaurus TCAD里,我常用的设置是这样的:
Physics {
Temperature = 300
ElectrodeTemperature
HeatEquation
...
}
Solve {
Coupled { Poisson Electron Hole Heat }
...
}
这里的关键是HeatEquation这个开关。打开它,求解器就会把热方程纳入耦合求解。
我个人建议,电热耦合求解用全耦合(Fully Coupled)方式,也就是同时求解泊松方程、载流子连续性方程和热方程。这样做收敛性最好,虽然计算量大一些,但结果可靠。
有些工程师为了省时间,用顺序耦合(Sequential Coupled),先算电学,再算热学,然后迭代。我试过,对于SOI器件,这种方法容易发散。因为自热效应会强烈影响迁移率,迁移率变了电流就变,电流变了发热就变,发热变了温度就变,温度又反过来影响迁移率...这个正反馈回路,顺序耦合很难稳住。
警告:SOI器件的自热效应强烈,建议使用全耦合求解。顺序耦合可能导致不收敛或结果偏差。
另外,边界条件也很重要。热边界条件通常有几种:
- 等温边界:电极处固定温度(比如300K)
- 热阻边界:考虑封装和散热路径的热阻
- 绝热边界:没有热流通过(用于对称面)
我一般会在衬底底部设置等温边界,模拟理想散热。但如果你要模拟实际封装,就得用热阻边界,把封装的热阻加进去。
嗯,这里有个坑:SOI的埋氧层热导率只有硅的1%左右,大概1.4 W/(m·K)。如果你用默认的硅材料参数,没改埋氧层的热导率,那仿真出来的温度会严重偏低。我曾经吃过这个亏,后来养成了习惯——每次建SOI结构,第一件事就是检查埋氧层的热导率设置。
4.4 知识体系总览
为了让你更直观地理解这一章的内容,我画了一张图:
这张图把这一章的核心内容串起来了。从左到右,从物理模型到计算方法,再到工程实践。你照着这个思路去设置仿真,基本不会出大问题。
最后说一句:电热耦合仿真,说白了就是让电学和热学互相「对话」。你给热方程一个发热源,热方程还你一个温度分布,温度再告诉电学方程「迁移率该降了」。这个循环收敛了,结果才是可信的。
我个人习惯,每次跑完电热耦合仿真,第一件事就是看温度分布云图。如果最高温度出现在沟道漏端附近,而且温度值在合理范围内(通常SOI器件温升50-100K),那基本就对了。如果温度分布均匀得像抹了黄油,那肯定有问题——自热效应一定是局部的。
总结:焦耳热模型是基础,热生成率计算要分电子空穴和复合项,求解器设置推荐全耦合。SOI器件的自热效应,埋氧层是关键,别让它成为你仿真的「隐形杀手」。
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