什么是可测试性设计？为什么需要DFT？DFT在芯片设计流程中的位置。
故障模型 (Stuck-at, Transition, Bridging)、测试覆盖率、ATPG原理。
扫描链的基本原理、扫描触发器类型、扫描链的插入与实现。
JTAG标准介绍、边界扫描寄存器、边界扫描描述语言 (BSDL)。
存储器BIST、逻辑BIST、BIST控制器设计。
测试数据压缩原理、X-tolerant压缩、MISR与压缩器设计。
多时钟域测试、异步复位测试、Power-aware测试。
TAM架构设计、测试壳 (Test Wrapper)、测试调度。
存储器故障模型、March算法、存储器BIST实现。
模拟测试基础、混合信号测试挑战、DFT for Analog。
小规模ASIC的DFT实现 (从RTL到测试向量)。
中规模SoC的DFT实现 (多时钟域、多电源域)。
大规模芯片的DFT实现 (层次化扫描、测试压缩)。
Tcl脚本基础、TetraMAX Tcl API、自动化测试流程。
低功耗扫描链、Power-aware ATPG、电压降对测试的影响。
扫描链的物理实现、时钟树影响、布局布线中的DFT考虑。
机器学习在DFT中的应用、3D IC测试、Chiplet测试。