ATPG自动测试向量生成入门 · 课程目录

01

什么是ATPG 为什么需要ATPG 芯片设计流程基本原理

02

故障模型基础

固定故障过渡故障桥接故障故障等效/支配

03

组合电路ATPG算法

D算法 PODEM FAN SOCRATES

04

时序电路ATPG

测试挑战基本概念方法分类扫描链设计

05

扫描链设计与测试

全扫描部分扫描插入流程测试与诊断

06

ATPG工具使用入门

主流工具 TetraMAX FastScan 环境配置

07

测试向量生成流程

读入网表/库定义测试模式故障列表运行ATPG 输出向量

08

故障仿真基础

仿真目的仿真算法串行/并行并发仿真

09

测试压缩技术

压缩原理 LFSR压缩 XOR网络 X-tolerance

10

BIST技术入门

内建自测试 BIST架构 LFSR/MISR 控制器设计

11

边界扫描测试

JTAG标准边界扫描架构 BSDL文件测试应用

12

测试覆盖率分析

故障覆盖率测试覆盖率提升策略报告解读

13

ATPG约束与规则

设计规则检查约束类型时序约束 X态处理

14

低功耗测试

测试功耗问题低功耗ATPG 向量排序时钟门控

15

测试向量格式

WGL STIL VCD TDL 格式转换

16

ATPG与DFT协同

可测性设计 DFT规则检查友好设计风格 DFT插入流程

17

存储器测试

故障模型 March算法 MBIST架构修复技术

18

路径延迟故障小延迟缺陷时序感知ATPG 片上延迟测量

19

诊断与良率分析

失败诊断流程故障定位良率学习 volume diagnosis

20

ATPG脚本编程

Tcl脚本工具脚本化自动化流程批量处理

21

层次化策略模块级ATPG 芯片级ATPG 层次化故障仿真

22

模拟与混合信号测试

模拟测试基础混合信号挑战 ADC/DAC测试 PLL测试

23

ATPG for 先进工艺

FinFET挑战工艺偏差可靠性测试老化测试

24

测试成本优化

时间优化数据量优化多站点测试良率管理

25

ATPG与EDA集成

逻辑综合布局布线 STA 物理验证

26

安全芯片测试

安全测试挑战侧信道攻击故障注入攻击安全标准

27

AI在ATPG中的应用

机器学习辅助智能故障排序自适应测试 AI驱动优化

28

ATPG项目实战

需求分析测试策略实施流程结果分析

29

ATPG前沿技术

量子计算测试光子芯片生物芯片 3D IC

30

ATPG职业发展

技能树认证考试行业趋势学习资源